Библиотека Российской академии наук (БАН)

Базы данных


ЭК отдела БАН при Институте химии силикатов им. И.В.Гребенщикова РАН (ИХС) - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Поисковый запрос: (<.>S=Электронная микроскопия -- растровая<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1.

Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение [Текст] : переводное издание / под ред. У. Жу и Ж. Л. Уанга, пер. с англ. С. А. Иванова, К. И. Домкина под ред. Т. П. Каминской. - М. : БИНОМ. Лаборатория знаний, 2013. - 582 с. : ил., цв. вкл. ; 24 см. - Библиогр. в конце глав. - Предм. указ.: с. 574-582. - ISBN 978-5-9963-1110-1.
Доп. тит. л. на англ. яз.

Рубрики:
Электронная микроскопия--растровая
   Рентгеновский анализ

   Нанотехнологии-Методы исследования

Доп.точки доступа: Жу, У. \ред.\; Уанга, Ж.Л. \ред.\; Иванов, С.А. \пер.\; Домкин, К.И. \пер.\; Каминская, Т.П. \ред.\
Найти похожие