1. |
Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение [Текст] : переводное издание / под ред. У. Жу и Ж. Л. Уанга, пер. с англ. С. А. Иванова, К. И. Домкина под ред. Т. П. Каминской. - М. : БИНОМ. Лаборатория знаний, 2013. - 582 с. : ил., цв. вкл. ; 24 см. - Библиогр. в конце глав. - Предм. указ.: с. 574-582. - ISBN 978-5-9963-1110-1. Доп. тит. л. на англ. яз. Рубрики: Электронная микроскопия--растровая Рентгеновский анализ Нанотехнологии-Методы исследования Доп.точки доступа: Жу, У. \ред.\; Уанга, Ж.Л. \ред.\; Иванов, С.А. \пер.\; Домкин, К.И. \пер.\; Каминская, Т.П. \ред.\ Найти похожие
| |