Библиотека Российской академии наук (БАН)

Базы данных


ЭК отдела БАН при Физико-техническом институте им. А.Ф.Иоффе РАН (ФТИ) - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
По Вашему запросу: " (<.>M=Electron Beam Interactions with Solids for Microscopy, Microanalysis and Microlithography (1 ; 18-23 April, 1982 ; Monterey, CA). <.>) " (на естественном языке: ) ничего не найдено. Убедитесь в корректности запроса.