Поисковый запрос: (<.>K=СТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ<.>) |
Общее количество найденных документов : 28
Показаны документы с 1 по 10 |
|
| 1. | Ф|10575
С71
Спектральные методы решения проблем физики твердого тела [Текст] : сб. ст. / Науч. совет по пробл. "Спектроскопия атомов и молекул" АН СССР ; Науч. совет по проблеме "Спектроскопия атомов и молекул" АН СССР. - М. : [б. и.], 1988. - 201 с. : ил. - Библиогр. в конце ст. - 2-00 р.
Рубрики: ФИЗИКА
Кл.слова (ненормированные):
Физика твердого тела -- Структурный анализ -- Оптические свойства -- Спектроскопия твердого тела
Доп.точки доступа: Науч. совет по проблеме "Спектроскопия атомов и молекул" АН СССР
Найти похожие
|
| 2. | Ф|10651
М54
Методы структурного анализа [Текст] : сб. науч. тр. / Ин-т кристаллографии им. А.В. Шубникова АН СССР ; Редкол.: акад. Б.К. Вайнштейн (отв. ред.) и др. - М. : Наука, 1989. - 304 с. : ил. - Библиогр. в конце ст. - 4-50 р.
Рубрики: Ф
Кл.слова (ненормированные):
Структурный анализ -- Кристаллография
Доп.точки доступа: Вайнштейн, Б.К. \ред.\; Ин-т кристаллографии им. А.В.Шубникова АН СССР
Найти похожие
|
| 3. | Ф|10715
А94
Афанасьев, А. М.
Рентгенодифракционная диагностика субмикронных слоев [Текст] : монография / А. М. Афанасьев, П. А. Александров, Р. М. Имамов. - М. : Наука, 1989. - 151,[1] с. : ил. - Библиогр.: с. 146-151 (226 назв.). - ISBN 5-02-014020-1 : 2-10 р.
Рубрики: ФИЗИКА
Кл.слова (ненормированные):
Дифракция -- Применение рентгеновских лучей -- Структурный анализ
Доп.точки доступа: Александров, П.А.; Имамов, Р.М.
Найти похожие
|
| 4. | Ф|10703
Э45
Электронная структура примесей и дефектов в переходных металлах, их сплавах и соединениях [Текст] : монография / В.И.Анисимов, В.П.Антропов, В.А.Губанов и др. ; Отв. ред. Г.П.Швейкин; АН СССР. Урал. отд-ние, Ин-т химии. - М. : Наука, 1989. - 222,[1] с. : ил. - Библиогр. в конце глав. - ISBN 5-02-001344-7 : 3-50 р.
Рубрики: Ф
Кл.слова (ненормированные):
Дефекты -- Электрические свойства твердых тел -- Металлы -- Структурный анализ -- Структура и свойства металлов и сплавов
Доп.точки доступа: Анисимов, В.И.; Антропов, В.П.; Губанов, В.А.; Швейкин, Г.П. \ред.\; Ин-т химии УрО АН СССР
Найти похожие
|
| 5. | Ф|10842
А73
Анферов, В. П.
Ядерный спиновый резонанс: Новые методы [Текст] : монография / В.П. Анферов, В.С. Гречишкин, Н.Я. Синявский ; Калинингр. гос. ун-т. - Л. : Изд-во ЛГУ, 1990. - 158,[1] с. : ил. - Библиогр.: с. 150-159 (174 назв.). - ISBN 5-288-00268-1 : 1-70 р.
Рубрики: Ф
Кл.слова (ненормированные):
Структурный анализ -- Спектроскопия
Доп.точки доступа: Гречишкин, В.С.; Синявский, Н.Я.; Калинингр. гос. ун-т
Найти похожие
|
| 6. | Ф|10980
В26
Вегман, Е. Ф.
Кристаллография, минералогия, петрография и рентгенография [Текст] : учеб. пособие для вузов / Е.Ф. Вегман, Ю.Г. Руфанов, И.Н. Федорченко. - М. : Металлургия, 1990. - 262 с : ил. - Библиогр.: с. 261. - 00.55 р.ББК Ф V-2.1 + Ф V-2.3 + Х II-4 + Х III-14 + Ф XIII-5.3 + Ф V-2.3
Рубрики: Ф
Кл.слова (ненормированные):
КРИСТАЛЛОГРАФИЯ -- РОСТ КРИСТАЛЛОВ -- ГЕОХИМИЯ -- КРИСТАЛЛОХИМИЯ -- РЕНТГЕНОГРАФИЯ -- СТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ
Доп.точки доступа: Руфанов, Ю.Г.; Федорченко, И.Н.
Найти похожие
|
| 7. | Ф|10912
E43
Electron Beam Interactions with Solids for Microscopy, Microanalysis and Microlithography (1 ; 18-23 April, 1982 ; Monterey, CA).
Electron Beam Interactions with Solids for Microscopy, Microanalysis and Microlithography [Текст] : proc. of the First Pfefferkorn conf., held April 18-23, 1982, at the Asilomar Conference Center, Monterey, CA / Electron Beam Interactions with Solids for Microscopy, Microanalysis and Microlithography (1 ; 18-23 April, 1982 ; Monterey, CA) ; Ed. D.F. Kyser. - [Б. м. : б. и.], 1984. - 372 p. - б/ц р.ББК Ф V-1;063 + Ф V-2.1 + Ф XI-3
Рубрики: Ф
Кл.слова (ненормированные):
ФИЗИКА ТВЕРДОГО ТЕЛА; КОНФЕРЕНЦИИ -- СТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ -- ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ
Доп.точки доступа: Kyser, D.F. \ed.\
Найти похожие
|
| 8. | Ф|10104
E28
Egerton, R. F.
Electron energy-loss spectroscopy in the electron microscope [Текст] / R.F. Egerton. - New York ; London : Plenum press, 1986. - XII, 410 p. - Библиогр.: с. 377-406. -Указ.: с. 407-410. - ISBN 0-306-42158-5 : 3.00 р., 60.00 р.ББК Ф V 2-1 + Ф ХI 3 + X V 4
Рубрики: ФИЗИКА
Кл.слова (ненормированные):
СТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ -- ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ -- ЭЛЕКТРОННАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ
Найти похожие
|
| 9. | Ф|9459
Б51
Берсукер, И. Б.
Эффект Яна-Теллера и вибронные взаимодействия в современной химии [Текст] / И.Б. Берсукер ; Ин-т химии АН СССР. - М. : Наука, 1987. - 344 с. : ил. - Библиогр.: с. 319 - 337. - 4.10 р.ББК Ф V-2.1.3 + Ф V-7
Рубрики: ФИЗИКА
Кл.слова (ненормированные):
СТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ -- ЯПР
Доп.точки доступа: Ин-т химии АН СССР
Найти похожие
|
| 10. | Ф|9906
Д21
Даценко, Леонид Иванович .
Динамическое рассеяние рентгеновских лучей реальными кристаллами [Текст] / Л.И. Даценко, В.Б. Молодкин, М.Е. Осиновский ; АН УССР, Ин-т полупроводников, . - Киев : Наукова думка, 1988. - 195 с. : ил. - Библиогр.: с. 185 - 196. - ISBN 5-12-009296-9 : 2.70 р.ББК Ф V-2.1 + Ф XIII-5.1 + Ф XIII-5.3
Рубрики: ФИЗИКА
Кл.слова (ненормированные):
СТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ -- РАССЕЯНИЕ -- РЕНТГЕНОГРАФИЯ
Доп.точки доступа: Молодкин, В.Б.; Осиновский, М.Е.; АН УССР, Ин-т полупроводников
Найти похожие
|
|
|
|
Электронный каталог (ЭК) Библиотеки Российской академии наук (БАН)
Описание ЭК