Поисковый запрос: (<.>K=СТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ<.>) |
Общее количество найденных документов : 28
Показаны документы с 1 по 10 |
|
1. 
|
Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : Ф|10575/С71
Заглавие : Спектральные методы решения проблем физики твердого тела
: Сб. ст.
Выходные данные : М., 1988
Колич.характеристики :201 с.:
ил.
Коллективы :
Науч. совет по проблеме "Спектроскопия атомов и молекул" АН СССР
Примечания : Библиогр. в конце ст.
Цена : 2-00 р.
УДК : Ф V-1 + Ф V-2.1 + Ф V-8 + Ф XIII-4.6
Предметные рубрики: ФИЗИКА
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): физика твердого тела--структурный анализ--оптические свойства--спектроскопия твердого тела
Экземпляры :ХР(1)
Свободны : ХР(1)
Найти похожие
|
2.
|
Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : Ф|10651/М54
Заглавие : Методы структурного анализа
: Сб. науч. тр.
Выходные данные : М.: Наука, 1989
Колич.характеристики :304 с.:
ил.
Коллективы :
Ин-т кристаллографии им. А.В.Шубникова АН СССР
Серия:
Примечания : Библиогр. в конце ст.
Цена : 4-50
УДК : Ф V-2.1 + Ф V-2.1
Предметные рубрики: Ф
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): структурный анализ--кристаллография
Экземпляры :ХР(1)
Свободны : ХР(1)
Найти похожие
|
3.
|
Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : Ф|10715/А94
Автор(ы) : Афанасьев А.М., Александров П.А., Имамов Р.М.
Заглавие : Рентгенодифракционная диагностика субмикронных слоев
: монография
Выходные данные : М.: Наука, 1989
Колич.характеристики :151,[1] с.:
ил.
Примечания : Библиогр.: с. 146-151 (226 назв.)
ISBN, Цена 5-02-014020-1: 2-10
УДК : Ф XIII-5.1 + Ф XIII-5.9 + Ф V-2.1
Предметные рубрики: ФИЗИКА
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): дифракция--применение рентгеновских лучей--структурный анализ
Экземпляры :ХР(1)
Свободны : ХР(1)
Найти похожие
|
4.
|
Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : Ф|10703/Э45
Автор(ы) : Анисимов В.И., Антропов В.П., Губанов В.А.
Заглавие : Электронная структура примесей и дефектов в переходных металлах, их сплавах и соединениях
: монография
Выходные данные : М.: Наука, 1989
Колич.характеристики :222,[1] с.:
ил.
Коллективы :
Ин-т химии УрО АН СССР
Примечания : Библиогр. в конце глав
ISBN, Цена 5-02-001344-7: 3-50
УДК : Ф V-2.2 + Ф V-6 + Ф VI-4 + Ф VI-1 + Ф V-2.1 + Тх XIII-2.2
Предметные рубрики: Ф
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): дефекты--электрические свойства твердых тел--металлы--структурный анализ--структура и свойства металлов и сплавов
Экземпляры :ХР(1)
Свободны : ХР(1)
Найти похожие
|
5.
|
Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : Ф|10842/А73
Автор(ы) : Анферов В.П., Гречишкин В.С., Синявский Н.Я.
Заглавие : Ядерный спиновый резонанс: Новые методы
: монография
Выходные данные : Л.: Изд-во ЛГУ, 1990
Колич.характеристики :158,[1] с.:
ил.
Коллективы :
Калинингр. гос. ун-т
Примечания : Библиогр.: с. 150-159 (174 назв.)
ISBN, Цена 5-288-00268-1: 1-70
УДК : Ф V-2.1 + Ф XIII-4.6 + Х III-14
Предметные рубрики: Ф
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): структурный анализ--спектроскопия
Экземпляры :ХР(1)
Свободны : ХР(1)
Найти похожие
|
6.
|
Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : Ф|10980/В26
Автор(ы) : Вегман Е.Ф., Руфанов Ю.Г., Федорченко И.Н.
Заглавие : Кристаллография, минералогия, петрография и рентгенография
: Учеб. пособие для вузов
Выходные данные : М.: Металлургия, 1990
Колич.характеристики :262 с:
ил
Примечания : Библиогр.: с. 261
Цена : 00.55, р.
ББК : Ф V-2.1 + Ф V-2.3 + Х II-4 + Х III-14 + Ф XIII-5.3 + Ф V-2.3
Предметные рубрики: Ф
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): кристаллография--рост кристаллов--геохимия--кристаллохимия--рентгенография--структурный анализ
Экземпляры :ХР(1)
Свободны : ХР(1)
Найти похожие
|
7.
|
Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : Ф|10912/E43
Заглавие : Electron Beam Interactions with Solids for Microscopy, Microanalysis and Microlithography
: Proc. of the First Pfefferkorn conf., held April 18-23, 1982, at the Asilomar Conference Center, Monterey, CA
Выходные данные : Б.м., 1984
Колич.характеристики :372 p
Коллективы : Electron Beam Interactions with Solids for Microscopy, Microanalysis and Microlithography (1;18-23 April, 1982;Monterey, CA)
Цена : б/ц,
ББК : Ф V-1;063 + Ф V-2.1 + Ф XI-3
Предметные рубрики: Ф
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): физика твердого тела; конференции--структурный анализ--электронная микроскопия
Экземпляры :ХР(1)
Свободны : ХР(1)
Найти похожие
|
8.
|
Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : Ф|10104/E28
Автор(ы) : Egerton R.F.
Заглавие : Electron energy-loss spectroscopy in the electron microscope
Выходные данные : New York; London: Plenum press, 1986
Колич.характеристики :XII, 410 p.
Примечания : Библиогр.: с. 377-406. -Указ.: с. 407-410
ISBN, Цена 0-306-42158-5: 3.00, 60.00, р.
ББК : Ф V 2-1 + Ф ХI 3 + X V 4
Предметные рубрики: ФИЗИКА
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): структурный анализ--электронная микроскопия--электронная спектроскопия
Экземпляры : всего : ХР(2)
Свободны : ХР(2)
Найти похожие
|
9.
|
Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : Ф|9459/Б51
Автор(ы) : Берсукер И.Б.
Заглавие : Эффект Яна-Теллера и вибронные взаимодействия в современной химии
Выходные данные : М.: Наука, 1987
Колич.характеристики :344 с.:
ил
Коллективы :
Ин-т химии АН СССР
Примечания : Библиогр.: с. 319 - 337
Цена : 4.10, р.
ББК : Ф V-2.1.3 + Ф V-7
Предметные рубрики: ФИЗИКА
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): структурный анализ--япр
Экземпляры :ХР(1)
Свободны : ХР(1)
Найти похожие
|
10.
|
Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : Ф|9906/Д21
Автор(ы) : Даценко, Леонид Иванович, Молодкин В.Б., Осиновский М.Е.
Заглавие : Динамическое рассеяние рентгеновских лучей реальными кристаллами
Выходные данные : Киев: Наукова думка, 1988
Колич.характеристики :195 с.:
ил
Коллективы :
АН УССР, Ин-т полупроводников
Примечания : Библиогр.: с. 185 - 196
ISBN, Цена 5-12-009296-9: 2.70, р.
ББК : Ф V-2.1 + Ф XIII-5.1 + Ф XIII-5.3
Предметные рубрики: ФИЗИКА
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): структурный анализ--рассеяние--рентгенография
Экземпляры :ХР(1)
Свободны : ХР(1)
Найти похожие
|
|
|
|
Электронный каталог (ЭК) Библиотеки Российской академии наук (БАН)
Описание ЭК