Поисковый запрос: (<.>S=Электронная микроскопия<.>) |
Общее количество найденных документов : 28
Показаны документы с 1 по 10 |
|
| 1. | III 921,2002)
Г68
Горелик, Семен Самуилович .
Рентгенографический и электронно-оптический анализ : учеб. пособие для вузов / С.С. Горелик, Ю.А. Скаков, Л.Н. Расторгуев. - 4-е изд.,перераб. и доп. - М. : МИСИС, 2002. - 357, [1] с. : ил ; 27 см. - Библиогр.: с. 357-358. - ISBN 5-87623-096-0 : 201.96 р.
Рубрики: Рентгенография
Электронная микроскопия
Элекронография
Спектральный анализ
Доп.точки доступа: Скаков, Юрий Александрович; Расторгуев, Леонид Николаевич
Найти похожие
|
| 2. | ИХС II 6654
20000166
Хейденрайх, Роберт .
Основы просвечивающей электронной микроскопии [Текст] / Р. Хейденрайх, Пер. с англ. В.М.Кордонского и А.Г.Хачатуряна. - М. : Мир, 1966. - 472 с. : ил. ; 22 см. - Библиогр.: с.466-468. - 1 p. р.
Рубрики: Электронная микроскопия
Найти похожие
|
| 3. | II 7121
М54
Методы исследования атомной структуры и субструктуры материалов : учеб. пособие [Текст] : учебное пособие / В.М. Иевлев, А.Т. Косилов, Ю.К. Ковнеристый и др.; ред. В.М. Иевлев ; Мин-во образов. Рос. Федерации, Воронеж. гос. техн. ун-т. - 2-е изд., перераб. и доп. - Воронеж : Воронеж. гос. техн. ун-т., 2003. - 484 с. : ил ; 21 см. - Библиогр. в конце глав. - ISBN 5-7731-0083-5 : 50.00 р.
Рубрики: Методы исследования
Рентгеновский анализ
Электронная микроскопия
Спектроскопия электронная
Доп.точки доступа: Иевлев, В.М.; Косилов, А.Т.; Ковнеристый, Ю.К.; Лебедев, А.И.; Домашевская, Э.П.; Евтеев, А.В.; Малыхин, С.В.; Борисова, С.С.; Белоногов, Е.К.; Иевлев, В.М. \ред.\; Мин-во образов. Рос. Федерации; Воронеж. гос. техн. ун-т
Найти похожие
|
| 4. | II 1118
Q23
Quantitative electron microscopy (1964 ; Washington).
Proceedings of a symposium on "Quantitative electron microscopy" held at the , march 30-april 3, 1964, Washington, D.C. [Text] : материалы временных коллективов / Ed. Gunter F. Bahr, Ed. Elmar H. Zeitler. - Baltimore : Williams & Wilkins co, cop., 1965. - X, 605 p. : ил ; 26 см. - Библиогр. в конце ст. -Указ.: Auth. ind: с. 603-605. - 15.00 р.
Repr. from : Laboratory investigation. 14 (№ 6), pt. 2 1965
Рубрики: Аналитическая химия-Инструментальные методы анализа
Электронная микроскопия
Доп.точки доступа: Bahr, Gunter F. \ed.\; Zeitler, Elmar H. \ed.\
Найти похожие
|
| 5. | II 7223
Ш50
Шерстнев, Лев Гавриилович .
Электронная оптика и электроннолучевые приборы [Текст] : учеб. для вузов / Л.Г. Шерстнев. - М. : Энергия, 1971. - 368 с. : ил ; 21 см. - Библиогр.: с. 357-361. - 50.00 р.
Рубрики: Приборы оптические
Электронная микроскопия
Найти похожие
|
| 6. | II 6375
В15
Валиев, Руслан Зуфарович .
Кристаллогеометрический анализ межкристаллитных границ в практике электронной микроскопии [Текст] : научное издание / Р.З. Валиев, А.Н. Вергазов, В.Ю. Герцман ; Ин-т проблем сверхпластичности металлов АН СССР. - М. : Наука, 1991. - 231 с. : ил ; 21 см. - Библиогр.: с. 221-225. - 2.70 р.
Рубрики: Электронная микроскопия
Доп.точки доступа: Вергазов, Анатолий Николаевич; Герцман, Валерий Юрьевич; Ин-т проблем сверхпластичности металлов АН СССР
Найти похожие
|
| 7. | Спр.ММ/128
В19
Васильева, Лилиана Анатольевна .
Электронная микроскопия в металловедении цветных металлов : Справочник [Текст] : справочное издание / Л.А. Васильева, Л.М. Малашенко, Р.Л. Тофпенец; Ред. С.А. Астапчик ; Физико-техн. ин-т АН БССР. - Минск : Наука и техника, 1989. - 206, [1] с. : ил ; 21 см. - Библиогр.: с. 205-207 (62 назв.). - ISBN 5-343-00089-4 : 0.45 р.
Рубрики: Металлы-Справочники
Металлы цветные
Электронная микроскопия
Доп.точки доступа: Малашенко, Лилия Михайловна; Тофпенец, Римма Лазаревна; Астапчик, С.А. \ред.\; Физико-техн. ин-т АН БССР
Найти похожие
|
| 8. | II 6241
О-75
Основы аналитической электронной микроскопии [Текст] : переводное издание / ред. : Дж. Дж. Грен [и др.]. - М. : Металлургия, 1990. - 583, [1] с. : ил. ; 21 см. - Библиогр.: с.576-578 (31 назв.). - Предм. указ.: с. 579-584. - Пер. изд. : Principles of analytical electron microscopy. - New York etc. - ISBN 5-229-00375-5 (ошиб.) : 7.40 р.
Рубрики: Электронная микроскопия
Микроскопы
Материалы для электронной техники
Доп.точки доступа: Грен, Дж. Дж. \ред.\; Гольдштейн, Дж.И. \ред.\; Джой, Д.К. \ред.\; Ромиг, А.Д. \ред.\; Усиков, М.П. \ред.\
Найти похожие
|
| 9. | II 1290
N21
Nanocharacterisation : научное издание / Ed. by A.I.Kirkland, J.L.Hutchison. - Cambridge : Royal Society of Chemistry, 2007. - XIII, 304 p. : ил. ; 24 см. - (RSC Nanoscience & nanotechnology). - Библиогр. в конце глав. - Указ.: Subject. ind.: с.291-304 . - ISBN 978-0-85404-241-8 : 3913.35 р.
Рубрики: Нанотехнологии
Электронная микроскопия
Методы исследования
Доп.точки доступа: Kirkland, A.I. \ed.\; Hutchison, J.L. \ed.\
Найти похожие
|
| 10. | II 5835
С 71
Спенс, Джон
Экспериментальная электронная микроскопия высокого разрешения : научное издание / Джон Спенс; Пер. с англ./ Под ред. В.Н. Рожанского. - М. : Наука, 1986. - 319 с. : ил. ; 23 см. - Библиогр.: с. 313-320. - 3.70 р.
Перевод заглавия: Experimental high-resolution ebectron microscopy / John C.H. Spense
Рубрики: Электронная микроскопия
Доп.точки доступа: Рожанский, В.Н. \пер., ред.\
Найти похожие
|
|
|
|
Электронный каталог (ЭК) Библиотеки Российской академии наук (БАН)
Описание ЭК