Библиотека Российской академии наук (БАН)

Базы данных


ЭК отдела БАН при Институте химии силикатов им. И.В.Гребенщикова РАН (ИХС) - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Поисковый запрос: (<.>S=Электронная микроскопия -- растровая<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : II 7474/Р 24
Заглавие : Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение : переводное издание
Выходные данные : М.: БИНОМ. Лаборатория знаний, 2013
Колич.характеристики :582 с.: ил., цв. вкл.; 24 см
Примечания : Библиогр. в конце глав. - Предм. указ.: с. 574-582. - Доп. тит. л. на англ. яз.
ISBN, Цена 978-5-9963-1110-1: 1210.00 р.
Предметные рубрики: Электронная микроскопия-- растровая
Рентгеновский анализ
Нанотехнологии-Методы исследования
Экземпляры :(1)
Свободны : (1)
Найти похожие