Поисковый запрос: (<.>S=Рентгеновская дифракция<.>) |
Общее количество найденных документов : 8
Показаны документы с 1 по 8 |
1. 
|
Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : Спр.Физ.-К/ 5/P89
Заглавие : Powder Diffraction File. Alphabetical Indexes Inorganic Phases Sets 1-45
Выходные данные : Pennsylvania: ICDD, 1995
Колич.характеристики :XIII, 896 с.
; 30 см.
Цена : 250 р.
Предметные рубрики: Рентгеноструктурный анализ
Рентгеновская дифракция
Экземпляры :(1)
Свободны : (1)
Найти похожие
|
2.
|
Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : II 6950/А49
Автор(ы) : Алешина, Людмила Александровна, Шиврин, Олег Николаевич
Заглавие : Дифракция рентгеновских лучей в кристаллах
: Учеб. пособие
Выходные данные : Петрозаводск: ПетрГУ, 2001
Колич.характеристики :100 с.:
ил; 20 см
Примечания : Библиогр.: с.97-98
Цена : 20 р.
ББК : 22.37
Предметные рубрики: Рентгеноструктурный анализ
Кристаллография
Рентгеновская дифракция
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): рентгеновская дифракция
Экземпляры :(1)
Свободны : (1)
Найти похожие
|
3.
|
Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : Ш. 481/Ш48
Автор(ы) : Шепелев Ю.Ф.
Заглавие : Инструментальные методы рентгеновской дифрактометрии поликристаллов
: Учеб. пособие
Выходные данные : СПб: [Изд-во СПбГУ], 2004
Колич.характеристики :56 с.:
ил; 20 см
Коллективы :
Санкт-Петерб. гос. ун-т
Примечания : Библиогр.: с. 54
Цена : 50 р.
Предметные рубрики: Рентгеновская дифракция
Рентгеноструктурный анализ
Экземпляры : всего : (2)
Свободны : (2)
Найти похожие
|
4.
|
Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : I 723/П 59
Автор(ы) : Порай-Кошиц, Михаил Александрович
Заглавие : Основы структурного анализа химических соединений
: [Учеб. пособие для хим. спец. ун-тов]
. -2-е изд., перераб. и доп.
Выходные данные : М.: Высш. шк., 1989
Колич.характеристики :191, [1] с.:
ил.; 20 см
ISBN, Цена 5-06-000074-5: 0.40 р.
Предметные рубрики: Кристаллохимия
Рентгеновская дифракция
Кристаллы-- Рентгеноструктурный анализ
Экземпляры :(1)
Свободны : (1)
Найти похожие
|
5.
|
Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : II 6154/Л 63
Автор(ы) : Лисойван, Владимир Иванович, Громилов, Сергей Иванович
Заглавие : Аспекты точности в дифрактометрии поликристаллов
: научное издание
Выходные данные : Новосибирск: Наука, 1989
Колич.характеристики :239, [4] с.:
ил.; 22 см
Коллективы :
Ин-т неорган. химии СО АН СССР
Примечания : Библиогр.: с. 224-240 (313 назв.)
ISBN, Цена 5-02-028687-7: 2.60 р.
Предметные рубрики: Рентгеновская дифракция
Экземпляры :(1)
Свободны : (1)
Найти похожие
|
6.
|
Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : II 6009/Ч-57
Автор(ы) : Чжан, Шилин
Заглавие : Многоволновая дифракция рентгеновских лучей в кристаллах
: переводное издание
Выходные данные : М.: Мир, 1987
Колич.характеристики :334 с.:
ил.; 22 см
Перевод издания: Chang Shih-Lin Multiple diffraction of X-rays in crystals. -Berlin etc.
Примечания : Библиогр.: с.317-328 . - Предм. указ.: с. 329-331
Цена : 3.20 р.
Предметные рубрики: Физика твердого тела
Кристаллы-Физика
Рентгеновская дифракция
Рентгеновские лучи-Дифракция
Экземпляры :(1)
Свободны : (1)
Найти похожие
|
7.
|
Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : II 5717/А 94
Автор(ы) : Афанасьев, Александр Михайлович, Александров, Петр Анатольевич, Иманов, Рафик Мамедович
Заглавие : Рентгеновская структурная диагностика в исследовании приповерхностных слоев монокристаллов
: научное издание
Выходные данные : М.: Наука. Гл. ред. физ.-мат. лит., 1986
Колич.характеристики :95 с.:
ил.; 20 см
Серия: Проблемы науки и техн. прогресса
Примечания : Библиогр.: с. 93
Цена : 0.60 р.
Предметные рубрики: Монокристаллы-Поверхностные явления
Рентгеновская дифракция
Экземпляры :(1)
Свободны : (1)
Найти похожие
|
8.
|
Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : II 7456/М 54
Заглавие : Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении
: переводное издание
Выходные данные : М.: Техносфера, 2014
Колич.характеристики :544 с.:
цв.вкл.; 25 см
Серия: Мир физики и техники; II, Кн. 32
Примечания : Библиогр. в конце глав. - Предм. указ.: с. 533-545
ISBN, Цена 978-5-94836-385-1: 1300.00 р.
Предметные рубрики: Рентгеновская дифракция
Наноструктуры
Электронная микроскопия
Экземпляры :(1)
Свободны : (1)
Найти похожие
|
|
|
Электронный каталог (ЭК) Библиотеки Российской академии наук (БАН)
Описание ЭК