Библиотека Российской академии наук (БАН)

Базы данных


ЭК отдела БАН при Институте химии силикатов им. И.В.Гребенщикова РАН (ИХС) - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
в найденном
 Найдено в других БД:Электронный каталог (ЭК) Библиотеки Российской академии наук (БАН) (1196)ЭК отдела БАН при Главной (Пулковской) астрономической обсерватории РАН (ГАО) (1)ЭК сектора БАН при Институте прикладной астрономии РАН (ИПА) (1)ЭК отдела БАН при Физико-техническом институте им. А.Ф.Иоффе РАН (ФТИ) (125)ЭК сектора БАН при Институте цитологии РАН (ИНЦ) (1)ЭК отдела БАН при Институте истории материальной культуры РАН (ИИМК) (153)ЭК отдела БАН при Музее антропологии и этнографии им. Петра Великого (Кунсткамера) РАН (МАЭ) (4)ЭК сектора БАН при Институте проблем региональной экономики РАН (ИПРЭ) (6)ЭК отдела БАН при Институте высокомолекулярных соединений РАН (ИВС) (1)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=Метрология<.>)
Общее количество найденных документов : 12
Показаны документы с 1 по 10
 1-10    11-12 
1.    II 6923
   Д24


    Дворкин, Владимир Ильич .
    Метрология и обеспечение качества количественного химического анализа : монография / В.И.Дворкин. - М. : Химия, 2001. - 263 с. : ил. ; 22 см. - Библиогр.: с.216-220. - ISBN 5-7245-1185-1 : 269.28 р.

Рубрики: Аналитическая химия-Количественный анализ
   Метрология


Найти похожие

2.    II 6928
   Н19


    Назаров, Николай Григорьевич .
    Метрология. Основные понятия и математические модели [Текст] : учеб. пособие для вузов / Н.Г.Назаров. - М. : Высш. шк., 2002. - 348 с. : ил. ; 21 см. - Библиогр.: с.344. - ISBN 5-06-004070-4 : 95. 12 р.

Рубрики: Метрология
   Эксперимент-Обработка


Найти похожие

3.    II 6936
   Т21


    Тартаковский, Дмитрий Федорович .
    Метрология, стандартизация и технические средства измерений [Текст] : учеб. для вузов / Д.Ф. Тартаковский, А.С. Ястребов. - М. : Высш. шк., 2002. - 205 с. : ил. ; 22 см. - ISBN 5-06-003796-7 : 70.69 р.

Рубрики: Метрология
   Эксперимент-Обработка


Доп.точки доступа: Ястребов, Анатолий Степанович
Найти похожие

4.    II 6981
   С32


    Сергеев, А. Г.
    Метрология, стандартизация, сертификация [Текст] : учеб. пособие / А.Г. Сергеев, М.В. Латышев, В.В. Терегеря. - М. : Логос, 2003. - 536 с. : ил ; 22 см. - Библиогр.: с. 523-525. - ISBN 5-94010-053-8 : 146.74 р.

Рубрики: Метрология

Доп.точки доступа: Латышев, М.В.; Терегеря, В.В.
Найти похожие

5.    III 1381
   М69


    Михалева, Л. В.
    Основные химические понятия на основе СИ и метрологии [Текст] : монография / Л.В. Михалева, В.Н. Михалева, В.Н. Михалев. - Оренбург : Издательский центр ОГАУ, 2003. - 296 с. ; 29 см. - ISBN 5-88838-198-5 : 160.00 р.

Рубрики: Метрология
   Физико-химические величины

   Химия-Справочники


Доп.точки доступа: Михалева, В. Н.; Михалев, В. Н.
Найти похожие

6.    II 7283
   У 13


    Уайтхауз, Дэвид .
    Метрология поверхностей. Принципы, промышленные методы и приборы : переводное издание / Д.Уайтхауз; Пер. с англ. А.Я.Григорьева и Д.В.Ткачука под ред. Н.К.Мышкина. - Долгопрудный : Издательский Дом "Интеллект", 2009. - 472 с. ; 22 см. - Библиогр.: с. 469-471. - ISBN 978-5--91559-023-5 : 1089.00 р.

Рубрики: Поверхности-метрология

Найти похожие

7.    Спр. нано/5
   Н 25


   
    Нанотехнологии, метрология, стандартизация
и сертификация в терминах и определениях : [терминологический словарь] / под ред. М. В. Ковальчука, П. А. Тодуа. - М. : Техносфера, 2009. - 136 с. ; 22 см. - (Мир материалов и технологий ; VI, [Кн. 26] ). - Библиогр.: с. 134-135. - 2000 экз.. - ISBN 978-5-94836-229-8 : 325.00 р.

Рубрики: Нанотехнологии
   Нанотехнологии--Терминологический словарь


Доп.точки доступа: Ковальчук, М. В. \ред.\; Тодуа, П. А. \ред.\
Найти похожие

8.    Т299/Ф-50
   М 54


   
    Метрологическое обеспечение температурных
и теплофизических измерений в области высоких температур : Всесоюз. науч.-техн. конф. (15-17 окт. 1986 г.) : Тез. докл. : материалы временных коллективов / Гос. ком. СССР по стандартам, Харьк. обл. правл. НТО "Приборпром", Науч.-произв. об-ние "Метрология" ; [Отв. ред. Л. А. Назаренко]. - Харьков : НПО "Метрология", 1986. - 413 с. : ил. ; 20 см. - Библиогр. в конце докл. - 2.00 р.

Рубрики: Температура--Измерение
   Метрология


Доп.точки доступа: Назаренко, Л.А. \ред.\; Государственный комитет СССР по стандартамХарьковское областное правление НТО "Приборпром"; Научно-производственное объединение "Метрология"
Найти похожие

9.    II 7435
   М 34


   
    Материаловедение и метрология
наноструктур (свойства, особенности и исследование материалов) [Текст] : учеб. пособие / В. Я. Шевченко [и др.] ; Мин-во образования и науки РФ, Самар. гос. аэрокосм. ун-т. - Самара : Изд-во Самар. гос. аэрокосм. ун-та, 2010. - 219 с. : ил. ; 20 см. - ISBN 978-5-7883-0750-3 : 100.00 р.

Рубрики: Нанотехнологии-Учебники
   Нанотехнологии-Методы исследования

   Наноматериалы


Доп.точки доступа: Шевченко, Владимир Ярославович; Жабрев, Валентин Александрович; Гречников, Федор Васильевич; Михеев, Владимир Александрович; Министерство образования и науки Российской Федерации; Самарский государственный аэрокосмический университет имени академика С.П.Королева (Национальный исследовательский университет)
Найти похожие

10.    II 5473
   К 63


   Комарь, Николай Петрович

    Химическая метрология [Текст] / Н. П. Комарь. - Харьков : Вища шк. Изд-во при Харьк. ун-те, 1983 - . - 21 см.
   [Ч. 2] : Гетерогенные ионные равновесия. - 1984. - 207 с. : ил. - Библиогр.: с. 171-174 (75 назв.). - 2.40 р.

Рубрики: Ионный обмен
   Системы гетерогенные

   аналитическая химия-общие вопросы


Найти похожие

 1-10    11-12