Библиотека Российской академии наук (БАН)

Базы данных


ЭК отдела БАН при Институте химии силикатов им. И.В.Гребенщикова РАН (ИХС) - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
 Найдено в других БД:ЭК отдела БАН при Физико-техническом институте им. А.Ф.Иоффе РАН (ФТИ) (5)ЭК отдела БАН при Институте высокомолекулярных соединений РАН (ИВС) (3)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Поисковый запрос: (<.>A=Рамбиди, Н. Г.$<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1.    II 5595
   С 71


   
    Спектроскопия и дифракция
электронов при исследовании поверхности твердых тел [Текст] : научное издание / В. Ф. Кулешов, Ю. А. Кухаренко, С. А. Фридрихов и др; Отв. ред. Н. Г. Рамбиди. - М. : Наука, 1985. - 288 с. : ил. ; 22 см. - Библиогр. в конце частей. - 3.60 р.
Авт. указ. на обороте тит. л. В надзаг.: АН СССР, Программный ком. "Физика, химия и механика поверхности". Ин-т физики твердого тела.

Рубрики: Твердые тела-Поверхностные свойства
   Спектроскопия электронная


Доп.точки доступа: Кулешов, В.Ф.; Кухаренко, Ю.А.; Фридрихов, С.А.; Рамбиди, Н.Г. \ред.\
Найти похожие