Библиотека Российской академии наук (БАН)

Базы данных


ЭК отдела БАН при Главной (Пулковской) астрономической обсерватории РАН (ГАО) - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Поисковый запрос: (<.>S=Фотоэлектрические микроскопы -- Систематические ошибки<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1.
Наумов, В. А.
Исследование ошибок поля фотоэлектрических микроскопов отсчета лимбов ФВК. [Текст] / В. А. Наумов, Д. Д. Положенцев, В. Д. Шкутов // Известия ГАО. - 1996. - b N 210/b . - с235-242 . - ISSN 0367-7966

Рубрики: Фотоэлектрические микроскопы--Систематические ошибки
Доп.точки доступа: Положенцев, Д. Д.; Шкутов, В. Д.
Найти похожие