Библиотека Российской академии наук (БАН)

Базы данных


ЭК отдела БАН при Физико-техническом институте им. А.Ф.Иоффе РАН (ФТИ) - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>A=Feldman, L. C.$<.>)
Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2
1.ХР
ФТИ

Feldman, L. C.
Fundamentals of surface and thin film analysis [Text] / L.C. Feldman, J.W. Mayer. - New York et al. : Elsevier Science Publishing CO., Inc., 1986. - 354 p. : il. - Библиогр. в конце глав. - ISBN 0-444-00989-2.
ББК Ф V-1.1 Х III-8 Ф V-1.1.3
Рубрики: ФИЗИКА
Кл.слова (ненормированные):
ПОВЕРХНОСТЬ -- ПОВЕРХНОСТЬ -- ТОНКИЕ ПЛЕНКИ
Доп.точки доступа: Mayer, J.W.
Найти похожие


2.ХР

Feldman, L. C.
Materials analysis by ion channeling [Текст] / L. C. Feldman. - New York : [б. и.], 1982. - 300 c

Найти похожие