Библиотека Российской академии наук (БАН)

Библиотека Российской академии наук (БАН)

Базы данных

ЭК отдела БАН при Физико-техническом институте им. А.Ф.Иоффе РАН (ФТИ) - результаты поиска

Вид поиска

Электронный каталог (ЭК) Библиотеки Российской академии наук (БАН)

ЭК изданий на восточных языках отдела литературы стран Азии и Африки (ОЛСАА)

Имидж-каталог БАН

Рукописный фонд БАН

Фонд редкой книги БАН

Газетный фонд БАН

Подносные экземпляры из библиотеки Петра I

Рукописи старообрядцев-скрытников из Каргопольского собрания

Наука в СССР в годы Великой Отечественной войны 1941 - 1945 гг.

Русские биографические и биобиблиографические словари и справочники, 1956-2000 гг.

Санкт-Петербургские ведомости (1728 - 1781)

ЭК подразделений БАН при научно-исследовательских учреждениях (НИУ)
- ЭК подразделений БАН при НИУ физико-математического профиля
  - ЭК отдела БАН при Главной (Пулковской) астрономической обсерватории РАН (ГАО)
  - ЭК сектора БАН при Институте прикладной астрономии РАН (ИПА)
  - ЭК отдела БАН при Санкт-Петербургском отделении Математического института им. В.А. Стеклова РАН (ПОМИ)
- ЭК подразделений БАН при НИУ химического профиля
  - ЭК отдела БАН при Институте высокомолекулярных соединений РАН (ИВС)
  - ЭК отдела БАН при Институте химии силикатов им. И.В.Гребенщикова РАН (ИХС)
- ЭК подразделений БАН при НИУ биологического профиля
- ЭК подразделений БАН при НИУ геолого-географического профиля
  - ЭК сектора БАН при Институте геологии и геохронологии докембрия РАН (ИГГД)
  - ЭК отдела БАН при Институте озероведения РАН (ИНОЗ)
- ЭК подразделений БАН при НИУ общественного и гуманитарного профиля

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=оптическая томография<.>)

Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2

1.

   Springer eBooks
   S78


    Spectroscopy of emerging materials: recent advances toward new technologies [Electronic resource] : proc. NATO ARW, Sudak, Crimea, 14-18 Sept. 2003 / NATO advanced research workshop (14-18 Sept. 2003; Sudak, Crimea) ; eds: .E. Faulques, D.L. Perry, A.V. Yeremenko. - Dordrecht ; Boston : Kluwer Acad. Publ., 2004 : Springer Science + Business Media, Inc, 2005. - 409 p. - (NATO Science Ser. Ser. II: Mathematics, Physics, and Chemistry ; vol. 165). - ISBN 1-4020-2394-4. - ISBN eBook ISBN: 1-4020-2396-0 : Б. ц.
Электронная книга находится на постоянном доступе по адресу: http://ebooks.springerlink.com

УДК

Рубрики: Физика
Кл.слова (ненормированные):
Raman spectrometry -- рамановская спектроскопия -- электронная спектроскопия -- фотолюминесценция -- оптическая томография -- углеродные наноматериалы -- кремниевые наноматериалы и нанотрубы
Аннотация: A comprehensive discussion of the key role of modern spectroscopic investigations in interdisciplinary materials science and engineering, covering emerging materials that are either absolutely novel or well-known materials with recently discovered, exciting properties. The types of spectroscopy discussed include optical, electronic and magnetic, UV-visible absorption, Rayleigh scattering, photoluminescence, vibrational, magnetic resonance, electron energy loss, EXAFS, XANES, optical tomography, time-resolved spectroscopy, and point contact spectroscopy. The materials studied are highly topical, with a focus on carbon and silicon nanomaterials including nanotubes, fullerenes, nanoclusters, metallic superconducting phases, molecular materials, magnetic and charge-stripe oxides, and biomaterials. Theoretical treatments are presented of molecular vibrational dynamics, vibration-induced decay of electronic excited states, nanoscale spin-orbit coupling in 2D Si-based structures, and the growth of semiconductor clusters.

Перейти: Springer eBooks
Доп.точки доступа: Faulques, E. \ed.\; Perry, D.L. \ed.\; Yeremenko, A.V. \ed.\; NATO advanced research workshop (14-18 Sept. 2003 ; Sudak, Crimea)
Найти похожие

2.

   Ф|13831
   M45

    Measurement technology and intelligent instruments: Intern. symp. (9 ; June 29- July 2, 2009 ; St Petersburg).
    Measurement technology and intelligent instruments IX [Text] : selected papers 9th Intern. symp. ... 29- July 2, 2009, St Petersburg / Measurement technology and intelligent instruments: Intern. symp. (9 ; June 29- July 2, 2009 ; St Petersburg) ; eds.: Y. Chugui, Y. Gao, K.-Ch. Fan, R. Taymanov, K. Sapozhnikova. - Zuerich : Trans Tech Publ., 2010. - xx, 656 p. : il. - (Key Engineering Materials ; vol. 437). - Библиогр. в конце ст. - ISBN 978-0-87849-273-2 : б/ц р.

ББК Ф I-12.1;063

Рубрики: ФИЗИКА
Кл.слова (ненормированные):
МЕТРОЛОГИЯ -- новые методы измерений -- неразрушаюший контроль и диагностика -- оптическая томография -- рентгеновская томография -- КОНФЕРЕНЦИИ
Аннотация: This special collection focuses on measurement science and metrology: micro- and nano- measurements; novel measurement methods and diagnostic technologies, including non-destructive and dimensional inspection, optical and X-ray tomography and interferometry, terahertz technologies for science, industry and biomedicine, intelligent measuring instruments and systems for industry and transport, measurements of geometrical and mechanical quantities, measurements and metrology for humanitarian fields and education in measurement science.????The aim was to present the current state and evolution of measuring technology and intelligent instruments, to highlight novel technologies for science, industry and engineering, and to spot promising ways towards further development, of new technologies for measurement, at the international level.

Доп.точки доступа: Chugui, Y. \ed.\; Gao, Y. \ed.\; Fan, K.-Ch. \ed.\; Taymanov, R. \ed.\; Sapozhnikova, K. \ed.\
Найти похожие

Описание ЭК

Стандартный

Расширенный

Профессиональный

По словарю