Поисковый запрос: (<.>K=Электронная микроскопия<.>) |
Общее количество найденных документов : 57
Показаны документы с 1 по 10 |
|
| 1. | Ф|10729
О-75
Основы аналитической электронной микроскопии [Текст] : монография / Пер. с англ. под ред. М.П. Усикова ; Под ред. Дж.Дж. Грена и др. - М. : Металлургия, 1990. - 584 с. : ил. - Библиогр. в конце гл. .- Предм. указ.: c. 579-584. - Пер. изд. : Introduction to analytical electron microscopy. - 7-40 р.
Рубрики: Ф
Кл.слова (ненормированные):
Электронная микроскопия
Доп.точки доступа: Грен, Дж.Дж. \ред.\; Усиков, М.П. \пер.\
Найти похожие
|
| 2. | Ф|10912
E43
Electron Beam Interactions with Solids for Microscopy, Microanalysis and Microlithography (1 ; 18-23 April, 1982 ; Monterey, CA).
Electron Beam Interactions with Solids for Microscopy, Microanalysis and Microlithography [Текст] : proc. of the First Pfefferkorn conf., held April 18-23, 1982, at the Asilomar Conference Center, Monterey, CA / Electron Beam Interactions with Solids for Microscopy, Microanalysis and Microlithography (1 ; 18-23 April, 1982 ; Monterey, CA) ; Ed. D.F. Kyser. - [Б. м. : б. и.], 1984. - 372 p. - б/ц р.ББК Ф V-1;063 + Ф V-2.1 + Ф XI-3
Рубрики: Ф
Кл.слова (ненормированные):
ФИЗИКА ТВЕРДОГО ТЕЛА; КОНФЕРЕНЦИИ -- СТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ -- ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ
Доп.точки доступа: Kyser, D.F. \ed.\
Найти похожие
|
| 3. | Ф|10068
E97
Examining the submicron world [Text] : proc. of a NATO Advanced study inst. on improved methods for examining the submicron world, held July 28-Aug. 11, 1984 in Nova Scotia, Canada / Advanced study inst. on improved methods for examining the submicron world (1984; Nova Ccotia, Canada) ; Ed. R. Feder. - New York ; London : Plenum press, 1986. - XII, 372 p. : il. - (NATO ASI ser. Ser. B, Physics ; Vol.137). - Библиогр. в конце ст. -Указ.: с. 371-372. - ISBN 0-306-42278-6 : 1.00 р.ББК Ф XI 3 + Ф XIII-5.3
Рубрики: ФИЗИКА
Кл.слова (ненормированные):
ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ -- РЕНТГЕНОВСКАЯ МИКРОСКОПИЯ
Доп.точки доступа: Feder, R. \ed.\; Advanced study inst. on improved methods for examining the submicron world (1984 ; Nova Ccotia, Canada)
Найти похожие
|
| 4. | Ф|10104
E28
Egerton, R. F.
Electron energy-loss spectroscopy in the electron microscope [Текст] / R.F. Egerton. - New York ; London : Plenum press, 1986. - XII, 410 p. - Библиогр.: с. 377-406. -Указ.: с. 407-410. - ISBN 0-306-42158-5 : 3.00 р., 60.00 р.ББК Ф V 2-1 + Ф ХI 3 + X V 4
Рубрики: ФИЗИКА
Кл.слова (ненормированные):
СТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ -- ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ -- ЭЛЕКТРОННАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ
Найти похожие
|
| 5. | Ф|10107 + МФ|1368
U88
Use of Monte Carlo calculations in electron probe microanalysis and scanning electron microscopy [Текст] : proc. of a workshop, National Bureau of Standards, Gaithersburg, Maryland, October 1-3, 1975 / Sponsored by Analytical Chemistry Division, Institute for Materials Research, National Bureau of Standards ; Ed. K.F.J. Heinrich, D.E. Newbury, H. Yakowitz. - [Б. м. : б. и.], 1976. - VIII, 164 p : il. - (NBS Special publication ; 460). - 3.00 р.
Фотокопия.ББК Ф ХI -3 + Ф ХI;063
Рубрики: ФИЗИКА
Кл.слова (ненормированные):
ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ -- КОНФЕРЕНЦИЯ
Доп.точки доступа: Heinrich, K.F.J. \ed.\; Newbury, D.E. \ed.\; Yakowitz, H. \ed.\; Sponsored by Analytical Chemistry Division, Institute for Materials Research, National Bureau of Standards
Найти похожие
|
| 6. | Ф|9209
К60
Количественный электронно-зондовый микроанализ [Текст] : пер. с англ. / Т. Малви, В.Д. Скотт, С.Дж.Б. Рид и др; Ред. В.Д. Скотт, Ред. Г. Лав. - М. : Мир, 1986. - 352 с. : ил. - Библиогр.: с. 331 - 341. - 3.60 р.ББК Ф XI-3 + Ф V-1
Рубрики: ФИЗИКА
Кл.слова (ненормированные):
ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ -- МЕТОДЫ ИЗУЧЕНИЯ КОНДЕНСИРОВАННОГО СОСТОЯНИЯ
Доп.точки доступа: Малви, Т.; Скотт, В.Д.; Рид, С.Дж.Б.; Кокс, М.Дж.К.; Лав, Г.; Скотт, В.Д. \ред.\; Лав, Г. \ред.\
Найти похожие
|
| 7. | Ф|9252
С36
Сильноточные электронные пучки и новые методы ускорения [Текст] : (Сборник научных трудов) / Ред. В.К. Слока. - М. : [б. и.], 1985. - 157 с. : ил. - Библиогр. в конце ст. - 1.10 р.ББК Ф XI-3 + Ф XV-6
Рубрики: ФИЗИКА
Кл.слова (ненормированные):
ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ -- УСКОРИТЕЛИ ЗАРЯЖЕННЫХ ЧАСТИЦ
Доп.точки доступа: Слока, В.К. \ред.\
Найти похожие
|
| 8. | Ф|7634
С56
Современная электронная микроскопия в исследовании вещества [Текст] / АН СССР. Ин-т кристаллографии ; Ред. Б.Б. Звягин. - М. : Наука, 1982. - 278 с. : ил. - Библиогр. в конце ст. - 2.10 р.ББК Ф ХI-3
Рубрики: ФИЗИКА
Кл.слова (ненормированные):
ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ
Доп.точки доступа: Звягин, Б.Б. \ред.\; АН СССР. Ин-т кристаллографии
Найти похожие
|
| 9. | Ф|8056
E43
Elektronenmikroskopie in der Festkorperphysik [Текст] / Ed. H. Bethge, Ed. J. Heydenreich. - Berlin : Veb deutscher verlag der wissenschaften, 1982. - 564 с. : ил. - Библиогр. в конце ст. - 24.93 р.ББК Ф XI-3 + Ф V-2.1
Рубрики: ФИЗИКА
Кл.слова (ненормированные):
ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ -- СТРУЙНЫЙ АНАЛИЗ
Доп.точки доступа: Bethge, H. \ed.\; Heydenreich, J. \ed.\
Найти похожие
|
| 10. | Ф|8239
Т56
Томас, Г.
Просвечивающая электронная микроскопия материалов [Текст] : пер. с англ. / Г. Томас, М.Дж. Гориндж. - М. : Наука, Гл. ред. физ.-мат. лит., 1983. - 317 с. : ил. - Библиогр.: с. 310 - 317. - 3.90 р.ББК Ф XI-3 + Тх XIII-2.1
Рубрики: ФИЗИКА
Кл.слова (ненормированные):
ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ -- МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЯ
Доп.точки доступа: Гориндж, М.Дж.
Найти похожие
|
|
|
|
Электронный каталог (ЭК) Библиотеки Российской академии наук (БАН)
Описание ЭК