Библиотека Российской академии наук (БАН)

Базы данных


ЭК отдела БАН при Физико-техническом институте им. А.Ф.Иоффе РАН (ФТИ) - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Поисковый запрос: (<.>K=СТРУЙНЫЙ АНАЛИЗ<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1.    Ф|8056
   E43


   
    Elektronenmikroskopie in der
Festkorperphysik [Текст] / Ed. H. Bethge, Ed. J. Heydenreich. - Berlin : Veb deutscher verlag der wissenschaften, 1982. - 564 с. : ил. - Библиогр. в конце ст. - 24.93 р.
ББК Ф XI-3 + Ф V-2.1

Рубрики: ФИЗИКА
Кл.слова (ненормированные):
ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ -- СТРУЙНЫЙ АНАЛИЗ

Доп.точки доступа: Bethge, H. \ed.\; Heydenreich, J. \ed.\
Найти похожие