Библиотека Российской академии наук (БАН)

Базы данных


ЭК отдела БАН при Физико-техническом институте им. А.Ф.Иоффе РАН (ФТИ) - результаты поиска

Вид поиска
Электронный каталог (ЭК) Библиотеки Российской академии наук (БАН)
ЭК изданий на восточных языках отдела литературы стран Азии и Африки (ОЛСАА)
Имидж-каталог БАН
Рукописный фонд БАН
Фонд редкой книги БАН
Газетный фонд БАН
Подносные экземпляры из библиотеки Петра I
Рукописи старообрядцев-скрытников из Каргопольского собрания
Наука в СССР в годы Великой Отечественной войны 1941 - 1945 гг.
Русские биографические и биобиблиографические словари и справочники, 1956-2000 гг.
Санкт-Петербургские ведомости (1728 - 1781)
Область поиска
в найденном
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=РЕНТГЕНОВСКАЯ МИКРОСКОПИЯ<.>)
Общее количество найденных документов : 12
Показаны документы с 1 по 10
 1-10    11-12 
1.    Ф|10068
   E97

   
    Examining the submicron world [Text] : proc. of a NATO Advanced study inst. on improved methods for examining the submicron world, held July 28-Aug. 11, 1984 in Nova Scotia, Canada / Advanced study inst. on improved methods for examining the submicron world (1984; Nova Ccotia, Canada) ; Ed. R. Feder. - New York ; London : Plenum press, 1986. - XII, 372 p. : il. - (NATO ASI ser. Ser. B, Physics ; Vol.137). - Библиогр. в конце ст. -Указ.: с. 371-372. - ISBN 0-306-42278-6 : 1.00 р.
ББК Ф XI 3 + Ф XIII-5.3

Рубрики: ФИЗИКА
Кл.слова (ненормированные):
ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ -- РЕНТГЕНОВСКАЯ МИКРОСКОПИЯ

Доп.точки доступа: Feder, R. \ed.\; Advanced study inst. on improved methods for examining the submicron world (1984 ; Nova Ccotia, Canada)
Найти похожие
2.    Ф|9452
   Р39

   
    Рентгеновская оптика и микроскопия [Текст] : пер. с англ. / Ред. А.В. Виноградов, Ред. Г. Шмаль, Ред. Д. Рудольф. - М. : Мир, 1987. - 452 с. : ил. - Библиогр. в конце ст. - 4.60 р.
ББК Ф XIII-5.0 + Ф XIII-5.3

Рубрики: ФИЗИКА
Кл.слова (ненормированные):
РЕНТГЕНОВСКИЕ ЛУЧИ -- РЕНТГЕНОВСКАЯ МИКРОСКОПИЯ

Доп.точки доступа: Виноградов, А.В. \ред.\; Шмаль, Г. \ред.\; Рудольф, Д. \ред.\
Найти похожие
3.    Ф Спр.|12375
   H22

   
    Handbook of micro/nanotribology [Text] : справочное издание / ed. by B. Bhushan. - 2nd ed. - Boca Raton etc. : CRC Press, 1999. - 859 p. - ISBN 0-8493-8402-8 : 980-00 р.
УДК
Ф VII-7.3/4
Ф V-7
Ф XIII-3.292
Ф XIII-5.2
Ф XIII-5.3

Рубрики: ФИЗИКА
Кл.слова (ненормированные):
наноструктуры -- Нанотехнологии -- Магнитные кристаллы -- Микроскопы -- Рентгеновская и электронная спектроскопия -- Рентгеновская микроскопия

Доп.точки доступа: Bhushan, B. \ed.\
Найти похожие
4.    Ф|2943 Vol. 148
   T71

    Tolan, M.
    X-ray scattering from soft-matter thin films [Text] : materials science and basic research / M. Tolan. - Berlin etc. : Springer, 1999. - viii, 197 p. - (Springer tracts in modern physics ; vol. 148). - Bibliogr.: 417 ref. - ISBN 3-540-65182-9 : 756.00 р.
УДК
Ф XIII-5.2
Ф XIII-5.3
Ф V-9.2
Ф V-3
Ф XV-12

Рубрики: ФИЗИКА
Кл.слова (ненормированные):
Рентгеновская спектроскопия -- Рентгеновская микроскопия -- Тонкие пленки -- Радиационные эффекты в твердых телах -- Прохождение излучений через вещество

Найти похожие
5.    Ф|12529
   С 89

    Суворов, Э. В.
    Физические основы современных методов исследования реальной структуры кристаллов [Текст] : монография / Э.В. Суворов. - Черноголовка : Подмоск. фил. МГУ, 1999. - 231 с. : ил. - Библиогр. в конце гл. - ISBN 5-201-10400-2 : Б. ц.
УДК
Ф V-2.2
Ф XI-3
Ф XIII-5.3

Рубрики: ФИЗИКА
Кл.слова (ненормированные):
несовершенства кристаллов -- Электронная микроскопия -- Рентгеновская микроскопия

Найти похожие
6.    Ф|4214-4
   Г 68

    Горелик, С. С.
    Рентгенографический и электронно-оптический анализ [Текст] : [учеб. пособие для вузов по направлениям 550500-"Металлургия", 651300-"Металлургия", 651800-"Физ. материаловедение"] / С.С. Горелик, Ю.А. Скаков, Л.Н. Расторгуев. - 4-е изд., перераб. и доп. - М. : МИСИС, 2002. - 357,[1] с. - Библиогр.: с. 357-358. - ISBN 5-87623-096-0 : 202.96 р., 145.20 р.
ББК Ф XIII-5.3 + Ф XI-3 + Ф VI-1.0 + Ф VII-2 + Тх XIII-2.1

Рубрики: ФИЗИКА
Кл.слова (ненормированные):
РЕНТГЕНОВСКАЯ МИКРОСКОПИЯ -- РЕНТГЕНОГРАФИЯ -- ЭЛЕКТРОННАЯ И ИОННАЯ ОПТИКА -- МЕТАЛЛЫ -- ПОЛУПРОВОДНИКИ; СТРУКТУРА -- ДИЭЛEКТРИКИ; СТРУКТУРА -- МЕТАЛЛОВЕДЕНИЕ; МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЯ

Доп.точки доступа: Скаков, Ю.А.; Расторгуев, Л.Н.
Найти похожие
7.    Ф|12975
   М 13

    Мазалов, Л.Н.
    Рентгеновские спектры [Текст] / Л.Н. Мазалов; под ред. С.В. Борисова ; Ин-т неорганической химии СО РАН. - Новосибирск : Изд-во ИНХ СО РАН, 2003. - 329 с. - Библиогр. в конце гл. - ISBN 5-901688-01-5 : 50.00 р.
ББК Ф ХIII-5.2 + Ф ХIII-5.3 + Ф V-4.7

Рубрики: ФИЗИКА
Кл.слова (ненормированные):
РЕНТГЕНОВСКАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ -- ЭЛЕКТРОННАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ -- РЕНТГЕНОВСКАЯ МИКРОСКОПИЯ -- РЕНТГЕНОГРАФИЯ -- РЕНТГЕНОВСКИЙ СПЕКТРАЛЬНЫЙ АНАЛИЗ -- Рентгеновский микрозондовый анализ -- спектры поглощения -- рентгеновское рассеяние -- эмиссионная спектроскопия -- фотоэлектронная спектроскопия -- флуресцентная спектроскопия
Аннотация: Рентгеновская спектроскопия находит широкое применение в современной науке и технике, являясь мощным современным физическим методом изучения состава, электронного строения, структуры различных веществ и материалов.Рентгеноспектральный анализ является базовым аналитическим методом в промышленности; рентгеновский микрозондовый анализ нашел широкое применение в материаловедении; ультрамягкая рентгеновская эмиссионная и абсорбционная спектроскопия позволяет получить уникальную информацию об электронном и пространственном строении атомов, молекул и твердых тел. Материал, изложенный в книге, является основой лекционных курсов, которые автор читал студентам Новосибирского государственного университета.Книга знакомит с физическими основами рентгеновской спектроскопии, ее возможностями и достижениями и будет полезна как студентам и аспирантам, так и широкому кругу химиков и физиков.

Доп.точки доступа: Борисов, С.В. \ред.\; Ин-т неорганической химии СО РАН
Найти похожие
8.    Ф|13241
   H99

    International conference on X-ray and inner-shell processes (17 ; Sept., 1996 ; Hamburg).
    17th International conference on X-ray and inner-shell processes [Text] : proc. / International conference on X-ray and inner-shell processes (17 ; Sept., 1996 ; Hamburg) ; eds.: R.L. Johnson, H. Schmidt-Bocking, B.F. Sonntag. - New York : AIP, 1997. - x, 790 p. - (AIP Conf. Proc. ; vol. 389). - Библиогр. в конце ст. - ISBN 1-56396-563-1 : б/ц р.
ББК Ф XIII-5.2 + Ф XIII-5.3 + Ф XV-12

Рубрики: ФИЗИКА
Кл.слова (ненормированные):
РЕНТГЕНОВСКАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ -- РЕНТГЕНОВСКАЯ МИКРОСКОПИЯ -- ПРОХОЖДЕНИЕ ИЗЛУЧЕНИЙ ЧЕРЕЗ ВЕЩЕСТВО

Доп.точки доступа: Johnson, R.L. \ed.\; Schmidt-Bocking, H. \ed.\; Sonntag, B.F. \ed.\
Найти похожие
9.    Тх|8108
   С 42

   
    Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ в примерах практического применения [Текст] : учеб. пособие / М. М. Криштал [и др.] ; ред. М. М. Криштал. - М. : Техносфера, 2009. - 208 с. - (Мир физики и техники). - ISBN 978-5-94836-200-7 : 370.00 р.
ББК Тх XII-2.1.2; 0.75 + Ф XI-3 + Ф XIII-5.2 + Ф XIII-5.3

Рубрики: ТЕХНИКА
Кл.слова (ненормированные):
микроэлектроника; учеб. пособие -- электронная микроскопия -- рентгеновская и электронная спектроскопия -- рентгеновская микроскопия
Аннотация: Книга посвящена вопросам практического применения сканирующей (растровой) электронной микроскопии с рентгеноспектральным микроанализом. В первой части описаны основные принципы и устройства, используемые в сканирующей электронной микроскопии. При этом изложен минимум информации, необходимый для понимания возможностей этого метода, правильной постановки задач для сканирующей электронной микроскопии и интерпретации результатов исследований. Во второй части подробно разобрано и систематизировано более 50 примеров практического применения сканирующей электронной микроскопии с рентгеноспектральным микроанализом. Большинство примеров относится к деятельности заводской лаборатории и иллюстрирует решения практических задач. Также приведены примеры решения исследовательских задач. Все примеры подобраны таким образом, чтобы дать наиболее полное представление о типах задач, решаемых с помощью сканирующей электронной микроскопии, о подходах к их решению и общей методологии. В качестве учебного пособия книга предназначена для инженеров, аспирантов и студентов, повышающих свою квалификацию или обучающихся по специальностям, связанным с машиностроением и материаловедением. Ее можно использовать как вводный курс для операторов или непосредственных пользователей сканирующих электронных микроскопов. Книга также будет полезна специалистам, которым приходится ставить задачи, требующие применения сканирующей электронной микроскопии с рентгеноспектральным микроанализом.

Доп.точки доступа: Криштал, М. М.; Ясников, И. С.; Полунин, В. И.; Филатов, А. М.; Ульяненков, А. Г.; Криштал, М. М. \ред.\
Найти похожие
10.    Ф|1811
   C83

    Cosslett, Vernon Ellis .
    X-ray microscopy [Текст] / V. E. Cosslett, W. C. Nixon. - Cambridge : Cambridge univ. press, 1960. - XIV, 406 с. : il. - (Cambridge monographs on physic). - Библиогр.: с. 380-402. - 3.00 р.
ББК Ф XIII-5.3

Рубрики: ФИЗИКА
Кл.слова (ненормированные):
РЕНТГЕНОВСКАЯ МИКРОСКОПИЯ

Доп.точки доступа: Nixon, William Charles
Найти похожие
 1-10    11-12 
 
Описание ЭК
Стандартный
Расширенный
Профессиональный
По словарю