Библиотека Российской академии наук (БАН)

Библиотека Российской академии наук (БАН)

Базы данных

ЭК отдела БАН при Физико-техническом институте им. А.Ф.Иоффе РАН (ФТИ) - результаты поиска

Вид поиска

Электронный каталог (ЭК) Библиотеки Российской академии наук (БАН)

ЭК изданий на восточных языках отдела литературы стран Азии и Африки (ОЛСАА)

Имидж-каталог БАН

Рукописный фонд БАН

Фонд редкой книги БАН

Газетный фонд БАН

Подносные экземпляры из библиотеки Петра I

Рукописи старообрядцев-скрытников из Каргопольского собрания

Наука в СССР в годы Великой Отечественной войны 1941 - 1945 гг.

Русские биографические и биобиблиографические словари и справочники, 1956-2000 гг.

Санкт-Петербургские ведомости (1728 - 1781)

ЭК подразделений БАН при научно-исследовательских учреждениях (НИУ)
- ЭК подразделений БАН при НИУ физико-математического профиля
  - ЭК отдела БАН при Главной (Пулковской) астрономической обсерватории РАН (ГАО)
  - ЭК сектора БАН при Институте прикладной астрономии РАН (ИПА)
  - ЭК отдела БАН при Санкт-Петербургском отделении Математического института им. В.А. Стеклова РАН (ПОМИ)
- ЭК подразделений БАН при НИУ химического профиля
  - ЭК отдела БАН при Институте высокомолекулярных соединений РАН (ИВС)
  - ЭК отдела БАН при Институте химии силикатов им. И.В.Гребенщикова РАН (ИХС)
- ЭК подразделений БАН при НИУ биологического профиля
- ЭК подразделений БАН при НИУ геолого-географического профиля
  - ЭК сектора БАН при Институте геологии и геохронологии докембрия РАН (ИГГД)
  - ЭК отдела БАН при Институте озероведения РАН (ИНОЗ)
- ЭК подразделений БАН при НИУ общественного и гуманитарного профиля

Область поиска

Найдено в других БД:

Электронный каталог (ЭК) Библиотеки Российской академии наук (БАН) (1)

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=Атомные пучки<.>)

Общее количество найденных документов : 5
Показаны документы с 1 по 5

1.

   Ф|12524
   P33

    Pauly, H.
    Atom, molecule, and cluster beams I [Text] : basic theory, production and detection of thermal energy beams / H. Pauly. - Berlin etc. : Springer, 2000. - 344 p. - (Springer ser.: Atom, optical, and plasma physics ; vol. 28). - ISBN 3-540-66945-0 : 2854-17 р.

УДК

Рубрики: ФИЗИКА
Кл.слова (ненормированные):
Молекулярные пучки -- Атомные пучки -- Кластеры -- Атомные и молекулярные кластеры

Найти похожие

2.

   Ф|12524
   P33

    Pauly, H.
    Atom, molecule, and cluster beams II: cluster beams, fast and slew beams, accessory equipment and applications [Text] : монография / H. Pauly. - Berlin etc. : Springer, 2000. - 374 p. : il. - (Springer ser. on atom. optical, and plasma physics ; vol. 32). - ISBN 3-540-67673-2 : Б. ц.

УДК

Рубрики: ФИЗИКА
Кл.слова (ненормированные):
Молекулярные пучки -- Кластеры -- Атомные пучки -- Атомная спектроскопия -- Атомные и молекулярные кластеры

Найти похожие

3.

   Springer eBooks
   H99


    Introduction to focused ion beams: instrumentation, theory, techniques, and practice [Electronic resource] : научное издание / eds: L.A. Giannuzzi, F. A. Stevie. - New York etc. : Kluwer Acad. Publ. ; Boston : Springer Science + Business Media, 2005. - 357 p. - ISBN eBook ISBN: 0-387-23313-X. - ISBN 0-387-23116-1
Электронная книга находится на постоянном доступе по адресу: http://ebooks.springerlink.com

УДК

Рубрики: Физика
Кл.слова (ненормированные):
фокус-ион-пучковая спектроскопия -- атомные пучки
Аннотация: Today’s FIB instruments can prepare TEM specimens in less than an hour. The FIB has also been used to prepare samples for numerous other analytical techniques, and offers a wide range of other capabilities. While the mainstream of FIB usage remains within the semiconductor industry, FIB usage has expanded to applications in metallurgy, ceramics, composites, polymers, geology, art, biology, pharmaceuticals, forensics, and other disciplines. In addition, the FIB has been used to prepare samples for numerous other analytical techniques. Computer automated procedures have been configured for unattended use of FIB and dual platform instruments. New applications of FIB and dual platform instrumentation are constantly being developed for materials characterization and nanotechnology. The site specific nature of the FIB milling and deposition capabilities allows preparation and processing of materials in ways that are limited only by one’s imagination. In this book the authors have attempted to produce a reference on FIB geared towards techniques and applications. The first portion of this book introduces the basics of FIB instrumentation, milling, and deposition capabilities. The chapter dedicated to ion-solid interactions is presented so that the FIB user can understand which parameters will influence FIB milling behavior. The remainder of the book focuses on how to prepare and analyze samples using FIB and related tools, and presents specific applications and techniques of the uses of FIB milling, deposition, and dual ??platform techniques.

Перейти: Springer eBooks
Доп.точки доступа: Giannuzzi, L.A. \ed.\; Stevie, F.A. \ed.\
Найти похожие

4.

   Ф|1473
   Р 21

    Рамзей, Н.
    Молекулярные пучки [Текст] : пер. с англ. / Н. Рамзей ; ред. Б. П. Адьясевич. - М. : Изд-во иностранной литературы, 1960. - 411 с. : ил. - Библиогр.: с. 373-399 (1023 назв.). - 26.80 р.
Рубрики: ФИЗИКА
Кл.слова (ненормированные):
Молекулярные пучки -- атомные пучки -- ядерная физика

Доп.точки доступа: Адьясевич, Б.П. \ред.\
Найти похожие

5.

   Ф|1134
   С 50

    Смит, К. Ф.
    Молекулярные пучки [Текст] : пер. с англ. / К. Ф. Смит ; пер. Л. М. Пятигорский ; ред. Г. М. Страховский. - М. : Физматлит, 1959. - 160 с. : ил. - Библиогр.: с. 152-157. - 4.00 р.
Рубрики: ФИЗИКА
Кл.слова (ненормированные):
Молекулярные пучки -- атомные пучки -- ядерная физика

Доп.точки доступа: Пятигорский, Л.М. \пер.\; Страховский, Г.М. \ред.\
Найти похожие

Описание ЭК

Стандартный

Расширенный

Профессиональный

По словарю