Поисковый запрос: (<.>K=scanning<.>) |
Общее количество найденных документов : 117
Показаны документы с 1 по 10 |
|
1. 
|
Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : Ф|10501/B40
Автор(ы) : Beiser L.
Заглавие : Holographic Scanning
Выходные данные : New York: Wiley, 1988
Колич.характеристики :234 p.:
il
Цена : 45.00, р.
Предметные рубрики: ФИЗИКА
Экземпляры :ХР(1)
Свободны : ХР(1)
Найти похожие
|
2.
|
Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : Ф|10107 + МФ|1368/U88
Заглавие : Use of Monte Carlo calculations in electron probe microanalysis and scanning electron microscopy
: Proc. of a workshop, National Bureau of Standards, Gaithersburg, Maryland, October 1-3, 1975
Выходные данные : Б.м., 1976
Колич.характеристики :VIII, 164 p:
il
Коллективы :
Sponsored by Analytical Chemistry Division, Institute for Materials Research, National Bureau of Standards
Серия: NBS Special publication; 460
Примечания : Фотокопия.
Цена : 3.00, р.
ББК : Ф ХI -3 + Ф ХI;063
Предметные рубрики: ФИЗИКА
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): электронная микроскопия--конференция
Экземпляры :ХР(1)
Свободны : ХР(1)
Найти похожие
|
3.
|
Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : Ф|6571/П69
Заглавие : Практическая растровая электронная микроскопия
Выходные данные : М.: Мир, 1978
Колич.характеристики :656 с
Перевод издания: Pracrical scanning electron spectroscopy. -New York, 1975
Примечания : Библиогрп.; с. 615-642. - Библиогр. в конце гл.
Цена : 4.70, р.
ББК : Ф XI-3
Предметные рубрики: ФИЗИКА
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): растровая электронная микроскопия
Экземпляры : всего : ХР(2)
Свободны : ХР(2)
Найти похожие
|
4.
|
Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : Ф|6233/P90
Заглавие : Practical scanning electron microscopy
: electron and ion microprobe analysis
Выходные данные : New York: Plenum Press, 1975
Колич.характеристики :582 p
ISBN, Цена 0306308207: Б.ц.
ISBN, Цена 9780306308208: Б.ц.
ББК : Ф XI-3
Предметные рубрики: ФИЗИКА
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): электронная и ионная микроскопия--scanning electron microscopy--сканирующая электронная микроскопия--микрозондовый анализ
Экземпляры :ФТИ(1)
Свободны : ФТИ(1)
Найти похожие
|
5.
|
Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : Ф|5754/Q23
Заглавие : Quantitative scanning electron microscopy
Выходные данные : London: Academic Press, 1974
Колич.характеристики :569 p
Цена : 3.00, р.
ББК : Ф XI-3
Предметные рубрики: Физика
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): электронная микроскопия
Экземпляры :ФТИ(1)
Свободны : ФТИ(1)
Найти похожие
|
6.
|
Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : Ф|5227/H43
Автор(ы) : Hearle J.W.S., Sparrow J.T., Cross P.M.
Заглавие : The use of the scanning electron microscope
. -Repr. with corr.
Выходные данные : Oxford: Pergamon Press, 1973
Колич.характеристики :XII, 278 с.:
ill.
Примечания : en.
Цена : 3.00, р.
ББК : Ф XI-3
Предметные рубрики: Физика
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): электронная микроскопия
Экземпляры :ФТИ(1)
Свободны : ФТИ(1)
Найти похожие
|
7.
|
Вид документа :
Шифр издания : Ф|10674 Vol. 20/S30
Заглавие : Scanning tunneling microscopy I. General principles and applications to clean and adsorbate-covered surfaces
Выходные данные : Berlin etc.: Springer, 1992
Колич.характеристики :XII, 246 p
Серия: Springer series in surface science; Vol. 20
Цена : 2280.00 р.
УДК : Ф V-1.1 + Х III-8.0 + Ф XI-3
Предметные рубрики: Физика
Экземпляры :(1)
Свободны : (1)
Найти похожие
|
8.
|
Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : Ф|13561/P83
Автор(ы) : Poon T.-Ch.
Заглавие : Optical scanning holography with MATLAB
Выходные данные : New York: Springer Science + Business Media, 2007
Колич.характеристики :153 p.:
il
Примечания : Библиогр. в конце гл.
ISBN, Цена 978-0-387-36826-9: 1200.00, р.
ББК : Ф XIII-1.7
Предметные рубрики: ФИЗИКА
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): голография; общие и теоретические вопросы
Экземпляры :ФТИ(1)
Свободны : ФТИ(1)
Найти похожие
|
9.
|
Вид документа : Многотомное издание
Шифр издания : Ф|10674 Vol.28/S30
Автор(ы) :
Заглавие : Scanning tunneling microscopy II/ eds.: R. Wiesendanger, H.J. Guntherodt, contrib. W. Baumeister. Vol. 2: Further applications and related scanning techniques
. -2nd ed.
Выходные данные : Berlin etc.: Springer, 1995
Колич.характеристики :349 p
Серия: Springer Ser. Surface Science; Vol. 28
ISBN, Цена 3-540-58589-3: 200.00, р.
ББК : Ф V-1.0 + Ф V-9.1 + Х III-8.0 + Ф XI-3
Предметные рубрики: ФИЗИКА
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): методы изучения конденсированного состояния--поверхностные явления--электронная микроскопия
Аннотация: Since the first edition of ''Scanning tunneling microscopy II" has appeared the various fields treated in this volume, such as STM in elrctrochemistry and biology, Scanning Force Microscopy (SFM), Scanning Near-Field Optical Microscopy (SNOM), and nanofabrication by STM and related techniques, have developed very rapidly.
Экземпляры :ФТИ(1)
Свободны : ФТИ(1)
Найти похожие
|
10.
|
Вид документа :
Шифр издания :
Автор(ы) : Shvartsman V.V., Pankrashkin A.V., Afanasjev V.P., Kaptelov E.Y., Pronin I.P., Kholkin A.L.
Заглавие : Piezoelectric properties of self-polarized Pb(ZrxTi1-x)O-3 thin film sprobed by scanning force microscopy
Место публикации : Integr. Ferroelectr. - 2005. - Vol.: 69. - P.103-111
Найти похожие
|
|
|
|
Электронный каталог (ЭК) Библиотеки Российской академии наук (БАН)
Описание ЭК