Поисковый запрос: (<.>K=scanning<.>) |
Общее количество найденных документов : 117
Показаны документы с 1 по 10 |
|
| 1. | Ф|10501
B40
Beiser, L.
Holographic Scanning [Текст] / L. Beiser. - New York : Wiley, 1988. - 234 p. : il. - 45.00 р.
Рубрики: ФИЗИКА
Найти похожие
|
| 2. | Ф|10107 + МФ|1368
U88
Use of Monte Carlo calculations in electron probe microanalysis and scanning electron microscopy [Текст] : proc. of a workshop, National Bureau of Standards, Gaithersburg, Maryland, October 1-3, 1975 / Sponsored by Analytical Chemistry Division, Institute for Materials Research, National Bureau of Standards ; Ed. K.F.J. Heinrich, D.E. Newbury, H. Yakowitz. - [Б. м. : б. и.], 1976. - VIII, 164 p : il. - (NBS Special publication ; 460). - 3.00 р.
Фотокопия.ББК Ф ХI -3 + Ф ХI;063
Рубрики: ФИЗИКА
Кл.слова (ненормированные):
ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ -- КОНФЕРЕНЦИЯ
Доп.точки доступа: Heinrich, K.F.J. \ed.\; Newbury, D.E. \ed.\; Yakowitz, H. \ed.\; Sponsored by Analytical Chemistry Division, Institute for Materials Research, National Bureau of Standards
Найти похожие
|
| 3. | Ф|6571
П69
Практическая растровая электронная микроскопия [Текст] / под ред. Дж. Гоулдстейна, Х. Яковица, пер. с англ. под ред. В.И. Петрова. - М. : Мир, 1978. - 656 с. - Библиогрп.; с. 615-642. - Библиогр. в конце гл. - Пер. изд. : Pracrical scanning electron spectroscopy. - New York, 1975. - 4.70 р.ББК Ф XI-3
Рубрики: ФИЗИКА
Кл.слова (ненормированные):
растровая электронная микроскопия
Доп.точки доступа: Гоулдстейн, Дж. \ред.\; Яковица, Х. \ред.\; Петров, В.И. \ред. пер.\
Найти похожие
|
| 4. | Ф|6233
P90
Practical scanning electron microscopy [Text] : electron and ion microprobe analysis / ed. by J.I. Goldstein, H. Yakowitz. - New York : Plenum Press, 1975. - 582 p. - ISBN 0306308207. - ISBN 9780306308208 : 1.00 р.ББК Ф XI-3
Рубрики: ФИЗИКА
Кл.слова (ненормированные):
электронная и ионная микроскопия -- scanning electron microscopy -- сканирующая электронная микроскопия -- микрозондовый анализ
Доп.точки доступа: Goldstein, J.I. \ed.\; Yakowitz, H. \ed.\
Найти похожие
|
| 5. | Ф|5754
Q23
Quantitative scanning electron microscopy [Text] / ed. by D.B. Holt and other. - London : Academic Press, 1974. - 569 p. - 3.00 р.ББК Ф XI-3
Рубрики: Физика
Кл.слова (ненормированные):
электронная микроскопия
Найти похожие
|
| 6. | Ф|5227
H43
Hearle, J. W.S.
The use of the scanning electron microscope [Текст] / J. W.S. Hearle, J. T. Sparrow, P. M. Cross. - Repr. with corr. - Oxford : Pergamon Press, 1973. - XII, 278 с. : ill. - en. - 3.00 р.ББК Ф XI-3
Рубрики: Физика
Кл.слова (ненормированные):
Электронная микроскопия
Доп.точки доступа: Sparrow, J.T.; Cross, P.M.
Найти похожие
|
| 7. | Ф|10674 Vol. 20
S30
Scanning tunneling microscopy I. General principles and applications to clean and adsorbate-covered surfaces [Text] / Eds. H.J.Guntherodt, R.Wiesendanger; With contributions by D.Anselmetti et al. - Berlin etc. : Springer, 1992. - XII, 246 p. - (Springer series in surface science ; vol. 20). - 2280.00 р.
Рубрики: Физика
Доп.точки доступа: Guntherodt, H.J. \ed.\; Wiesendanger, R. \ed.\; Anselmetti, D. \ed.\
Найти похожие
|
| 8. | Ф|13561
P83
Poon, T. -Ch.
Optical scanning holography with MATLAB [Text] / T.-Ch. Poon. - New York : Springer Science + Business Media, 2007. - 153 p. : il. - Библиогр. в конце гл. - ISBN 978-0-387-36826-9 : 1200.00 р.ББК Ф XIII-1.7
Рубрики: ФИЗИКА
Кл.слова (ненормированные):
ГОЛОГРАФИЯ; ОБЩИЕ И ТЕОРЕТИЧЕСКИЕ ВОПРОСЫ
Найти похожие
|
| 9. | Ф|10674 Vol.28
S30
Scanning tunneling microscopy II [Text] / eds.: R. Wiesendanger, H.J. Guntherodt, contrib. W. Baumeister. - Berlin etc. : Springer, 1992 - .
Vol. 2 : Further applications and related scanning techniques. - 2nd ed. - Berlin etc. : Springer, 1995. - 349 p. - (Springer Ser. Surface Science ; vol. 28). - ISBN 3-540-58589-3 : 200.00 р.ББК Ф V-1.0 + Ф V-9.1 + Х III-8.0 + Ф XI-3
Рубрики: ФИЗИКА
Кл.слова (ненормированные):
МЕТОДЫ ИЗУЧЕНИЯ КОНДЕНСИРОВАННОГО СОСТОЯНИЯ -- ПОВЕРХНОСТНЫЕ ЯВЛЕНИЯ -- ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ
Аннотация: Since the first edition of ''Scanning tunneling microscopy II" has appeared the various fields treated in this volume, such as STM in elrctrochemistry and biology, Scanning Force Microscopy (SFM), Scanning Near-Field Optical Microscopy (SNOM), and nanofabrication by STM and related techniques, have developed very rapidly.
Доп.точки доступа: Wiesendanger R. \ed.\; Guntherodt H.J. \ed.\; Baumeister W. \contrib.\
Найти похожие
|
| 10. |
Piezoelectric properties of self-polarized Pb(ZrxTi1-x)O-3 thin film sprobed by scanning force microscopy [Текст] / V.V. Shvartsman, A.V. Pankrashkin, V.P. Afanasjev, E.Y. Kaptelov, I.P. Pronin, A.L. Kholkin // Integr. Ferroelectr. - 2005. - Vol.: 69. - P. 103-111
Доп.точки доступа: Shvartsman, V.V.; Pankrashkin, A.V.; Afanasjev, V.P.; Kaptelov, E.Y.; Pronin, I.P.; Kholkin, A.L.
Найти похожие
|
|
|
|
Электронный каталог (ЭК) Библиотеки Российской академии наук (БАН)
Описание ЭК