Библиотека Российской академии наук (БАН)

Базы данных


ЭК отдела БАН при Физико-техническом институте им. А.Ф.Иоффе РАН (ФТИ) - результаты поиска

Вид поиска
Электронный каталог (ЭК) Библиотеки Российской академии наук (БАН)
ЭК изданий на восточных языках отдела литературы стран Азии и Африки (ОЛСАА)
Имидж-каталог БАН
Рукописный фонд БАН
Фонд редкой книги БАН
Газетный фонд БАН
Подносные экземпляры из библиотеки Петра I
Рукописи старообрядцев-скрытников из Каргопольского собрания
Наука в СССР в годы Великой Отечественной войны 1941 - 1945 гг.
Русские биографические и биобиблиографические словари и справочники, 1956-2000 гг.
Санкт-Петербургские ведомости (1728 - 1781)
Область поиска
в найденном
 Найдено в других БД:Электронный каталог (ЭК) Библиотеки Российской академии наук (БАН) (189)ЭК изданий на восточных языках отдела литературы стран Азии и Африки (ОЛСАА) (3)ЭК отдела БАН при Главной (Пулковской) астрономической обсерватории РАН (ГАО) (1)ЭК отдела БАН при Санкт-Петербургском отделении Математического института им. В.А. Стеклова РАН (ПОМИ) (1)ЭК отдела БАН при Ботаническом институте им. В.Л.Комарова РАН (БИН) (40)ЭК сектора БАН при Институте цитологии РАН (ИНЦ) (14)ЭК отдела БАН при Институте физиологии им.И.П.Павлова РАН (ИФП) (1)ЭК сектора БАН при Институте эволюционной физиологии и биохимии им. И.М.Сеченова РАН (ИЭФБ) (1)ЭК сектора БАН при Институте геологии и геохронологии докембрия РАН (ИГГД) (9)ЭК отдела БАН при Институте истории материальной культуры РАН (ИИМК) (3)ЭК отдела БАН при Институте лингвистических исследований РАН (ИЛИ) (1)ЭК отдела БАН при Институте высокомолекулярных соединений РАН (ИВС) (1)ЭК отдела БАН при Институте химии силикатов им. И.В.Гребенщикова РАН (ИХС) (3)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=identification<.>)
Общее количество найденных документов : 62
Показаны документы с 1 по 10
 1-10    11-20   21-30   31-40   41-50   51-60      
1.    Ф|10105
   M65

   
    Microscopic Identification of Electronic Defects in Semiconductors [Текст] : symposium, April 15-18, 1985, San Francisco, California / Ed. N.M. Johnson et al. - Pittsburg : [б. и.], 1985. - XVI, 604 p. - (Materials research society symposia proceedings ; vol. 46). - 45.00 р.
ББК Ф VII 1-1 + Ф VII 2-2

Рубрики: ФИЗИКА
Кл.слова (ненормированные):
ДЕФЕКТЫ -- ДЕФЕКТЫ -- КОНФЕРЕНЦИЯ

Доп.точки доступа: Johnson, N.M. \ed.\
Найти похожие
2.    Мт|3247
   Л91

    Льюнг, Л.
    Идентификация систем: Теория для пользователя [Текст] / Л. Льюнг; Пер. с англ.: А.С.Мандель, А.В.Назин; Ред. пер. Я.З.Цыпкин. - М. : Наука, 1991. - 432 с. - Пер. изд. : System identification: theory for the user / Lennard Ljung.-Linkoping. - 5.60 р.
УДК
Мт VI-7.1.3
Мт IX-4.1
Мт X-0

Рубрики: Математика

Доп.точки доступа: Мандель, А.С. \пер.\; Назин, А.В. \пер.\; Цыпкин, Я.З. \ред. пер.\; Ljung.-Linkoping, Lennard
Найти похожие
3.    Ф|2330
   P36

    Pearse, Reginald William Blake .
    The identification of molecular spectra [Текст] / R. W.B. Pearse, A. G. Gaydon. - 3d ed. - London : Chapman & Hall, 1963. - XII, 347 с. : il. - 3.00 р.
ББК Ф XIII-4.4

Рубрики: ФИЗИКА
Кл.слова (ненормированные):
МОЛЕКУЛЯРНАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ

Доп.точки доступа: Gaydon, Alfred Gordon
Найти похожие
4.    Х|33
   A53

   
    Analytical Chemistry of Polymers [Текст]. Pt. 3. Identification Procedures and Chemical Analysis / ed. G. M. Kline. - New York ; London : Interscience Publishers, INC., 1962. - 566 p. : il. - (High Polymers ; vol. XII). - 1.00 р.
Рубрики: ХИМИЯ
Кл.слова (ненормированные):
ПОЛИМЕРЫ -- АНАЛИТИЧЕСКАЯ ХИМИЯ

Доп.точки доступа: Kline, G.M. \ed.\
Найти похожие
5.

   
    EPR identification of the triplet ground state and photoinduced population inversion for a Si-C divacancy in silicon carbide [Текст] / P.G. Baranov, I.V. Il'in, E.N. Mokhov, M.V. Muzafarova, S.B. Orlinskii, J. Schmidt // Jetp Letters. - 2005. - Vol.: 82, N : 7. - P. 441-443

Доп.точки доступа: Baranov, P.G.; Il'in, I.V.; Mokhov, E.N.; Muzafarova, M.V.; Orlinskii, S.B.; Schmidt, J.
Найти похожие
6.

   
    Identification of a dominant mechanism for optical spin injection from a diluted magnetic semiconductor: Spin-conserving energy transfer vialocalized excitations [Текст] / W.M. Chen, I.A. Buyanova, K. Kayanuma, K. Nishibayashi, K. Seo, A. Murayama, Y. Oka, A.A. Toropov, A.V. Lebedev, S.V. Sorokin, S.V. Ivanov // Phys. Rev. B. - 2005. - Vol.: 72, N : 7. - AR . 073206

Доп.точки доступа: Chen, W.M.; Buyanova, I.A.; Kayanuma, K.; Nishibayashi, K.; Seo, K.; Murayama, A.; Oka, Y.; Toropov, A.A.; Lebedev, A.V.; Sorokin, S.V.; Ivanov, S.V.
Найти похожие
7.

    Kyutt, R. N.
    Identification of the deffects in multilayered crystallic structures by the method of three-crystal diffractomery [Текст] / R.N. Kyutt // Metallofiz. Nov. Tekhnol.-Met. Phys. Adv. Techn. - 2005. - Vol.: 27, N : 2. - P. 233-247

Найти похожие
8.

   
    Unusually tight aggregation in detonation nanodiamond: Identification and disintegration [Текст] / A. Kruger, F. Kataoka, M. Ozawa, T. Fujino, Y.Suzuki, A.E. Aleksenskii, A.Y. Vul', E. Osawa // Carbon. - 2005. - Vol.: 43, N : 8. - P. 1722-1730

Доп.точки доступа: Kruger, A.; Kataoka, F.; Ozawa, M.; Fujino, T.; Suzuki, Y.; Aleksenskii, A.E.; Vul', A.Y.; Osawa, E.
Найти похожие
9.

   
    Identification of paramagnetic nitrogen centers (P1) in diamond crystallites synthesized via the sintering of detonation nanodiamonds athigh pressure and temperature [Текст] / V.Y. Osipov, F.M. Shakhov, N.N. Efimov, V.V. Minin, S.V. Kidalov, A.Y. Vul' // Phys. Solid State. - 2017. - Vol.: 59, N : 6. - P. 1146-1153

Доп.точки доступа: Osipov, V.Y.; Shakhov, F.M.; Efimov, N.N.; Minin, V.V.; Kidalov, S.V.; Vul', A.Y.
Найти похожие
10.

   
    Electron spin resonance identification di-carbon-related centers in irradiated silicon [Текст] / S. Hayashi, H. Saito, K.M. Itoh, M.P. Vlasenko, L.S. Vlasenko // J. Appl. Phys. / International conference on defects in semiconductors, 29th, (ICDS), JUL 31-AUG 04 2017, Matsue, JAPAN. - 2018. - Vol.: 123, N : 16. - AR . 161592

Доп.точки доступа: Hayashi, S.; Saito, H.; Itoh, K.M.; Vlasenko, M.P.; Vlasenko, L.S.; International conference on defects in semiconductors, 29th, (ICDS), JUL 31-AUG 04 2017, Matsue, JAPAN
Найти похожие
 1-10    11-20   21-30   31-40   41-50   51-60      
 
Описание ЭК
Стандартный
Расширенный
Профессиональный
По словарю