Поисковый запрос: (<.>K=Электронная микроскопия<.>) |
Общее количество найденных документов : 57
Показаны документы с 1 по 10 |
|
1. 
|
Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : Ф|10729/О-75
Заглавие : Основы аналитической электронной микроскопии
: монография
Выходные данные : М.: Металлургия, 1990
Колич.характеристики :584 с.:
ил.
Перевод издания: Introduction to analytical electron microscopy
Примечания : Библиогр. в конце гл. .- Предм. указ.: c. 579-584
Цена : 7-40
УДК : Ф XI-3
Предметные рубрики: Ф
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): электронная микроскопия
Экземпляры :ХР(1)
Свободны : ХР(1)
Найти похожие
|
2.
|
Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : Ф|10912/E43
Заглавие : Electron Beam Interactions with Solids for Microscopy, Microanalysis and Microlithography
: Proc. of the First Pfefferkorn conf., held April 18-23, 1982, at the Asilomar Conference Center, Monterey, CA
Выходные данные : Б.м., 1984
Колич.характеристики :372 p
Коллективы : Electron Beam Interactions with Solids for Microscopy, Microanalysis and Microlithography (1;18-23 April, 1982;Monterey, CA)
Цена : б/ц,
ББК : Ф V-1;063 + Ф V-2.1 + Ф XI-3
Предметные рубрики: Ф
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): физика твердого тела; конференции--структурный анализ--электронная микроскопия
Экземпляры :ХР(1)
Свободны : ХР(1)
Найти похожие
|
3.
|
Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : Ф|10068/E97
Заглавие : Examining the submicron world
: Proc. of a NATO Advanced study inst. on improved methods for examining the submicron world, held July 28-Aug. 11, 1984 in Nova Scotia, Canada
Выходные данные : New York; London: Plenum press, 1986
Колич.характеристики :XII, 372 p.:
il
Коллективы :
Advanced study inst. on improved methods for examining the submicron world (1984; Nova Ccotia, Canada)
Серия: NATO ASI ser. Ser. B, Physics; Vol.137
Примечания : Библиогр. в конце ст. -Указ.: с. 371-372
ISBN, Цена 0-306-42278-6: 1.00, р.
ББК : Ф XI 3 + Ф XIII-5.3
Предметные рубрики: ФИЗИКА
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): электронная микроскопия--рентгеновская микроскопия
Экземпляры :ХР(1)
Свободны : ХР(1)
Найти похожие
|
4.
|
Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : Ф|10104/E28
Автор(ы) : Egerton R.F.
Заглавие : Electron energy-loss spectroscopy in the electron microscope
Выходные данные : New York; London: Plenum press, 1986
Колич.характеристики :XII, 410 p.
Примечания : Библиогр.: с. 377-406. -Указ.: с. 407-410
ISBN, Цена 0-306-42158-5: 3.00, 60.00, р.
ББК : Ф V 2-1 + Ф ХI 3 + X V 4
Предметные рубрики: ФИЗИКА
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): структурный анализ--электронная микроскопия--электронная спектроскопия
Экземпляры : всего : ХР(2)
Свободны : ХР(2)
Найти похожие
|
5.
|
Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : Ф|10107 + МФ|1368/U88
Заглавие : Use of Monte Carlo calculations in electron probe microanalysis and scanning electron microscopy
: Proc. of a workshop, National Bureau of Standards, Gaithersburg, Maryland, October 1-3, 1975
Выходные данные : Б.м., 1976
Колич.характеристики :VIII, 164 p:
il
Коллективы :
Sponsored by Analytical Chemistry Division, Institute for Materials Research, National Bureau of Standards
Серия: NBS Special publication; 460
Примечания : Фотокопия.
Цена : 3.00, р.
ББК : Ф ХI -3 + Ф ХI;063
Предметные рубрики: ФИЗИКА
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): электронная микроскопия--конференция
Экземпляры :ХР(1)
Свободны : ХР(1)
Найти похожие
|
6.
|
Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : Ф|9209/К60
Автор(ы) : Малви Т., Скотт В.Д., Рид С.Дж.Б., Кокс М.Дж.К., Лав Г.
Заглавие : Количественный электронно-зондовый микроанализ
: Пер. с англ.
Выходные данные : М.: Мир, 1986
Колич.характеристики :352 с.:
ил
Примечания : Библиогр.: с. 331 - 341
Цена : 3.60, р.
ББК : Ф XI-3 + Ф V-1
Предметные рубрики: ФИЗИКА
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): электронная микроскопия--методы изучения конденсированного состояния
Экземпляры :ХР(1)
Свободны : ХР(1)
Найти похожие
|
7.
|
Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : Ф|9252/С36
Заглавие : Сильноточные электронные пучки и новые методы ускорения
: (Сборник научных трудов)
Выходные данные : М., 1985
Колич.характеристики :157 с.:
ил
Примечания : Библиогр. в конце ст
Цена : 1.10, р.
ББК : Ф XI-3 + Ф XV-6
Предметные рубрики: ФИЗИКА
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): электронная микроскопия--ускорители заряженных частиц
Экземпляры :ХР(1)
Свободны : ХР(1)
Найти похожие
|
8.
|
Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : Ф|7634/С56
Заглавие : Современная электронная микроскопия в исследовании вещества
Выходные данные : М.: Наука, 1982
Колич.характеристики :278 с.:
ил
Коллективы :
АН СССР. Ин-т кристаллографии
Примечания : Библиогр. в конце ст
Цена : 2.10, р.
ББК : Ф ХI-3
Предметные рубрики: ФИЗИКА
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): электронная микроскопия
Экземпляры :ХР(1)
Свободны : ХР(1)
Найти похожие
|
9.
|
Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : Ф|8056/E43
Заглавие : Elektronenmikroskopie in der Festkorperphysik
Выходные данные : Berlin: Veb deutscher verlag der wissenschaften, 1982
Колич.характеристики :564 с.:
ил
Примечания : Библиогр. в конце ст
Цена : 24.93, р.
ББК : Ф XI-3 + Ф V-2.1
Предметные рубрики: ФИЗИКА
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): электронная микроскопия--струйный анализ
Экземпляры :ХР(1)
Свободны : ХР(1)
Найти похожие
|
10.
|
Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : Ф|8239/Т56
Автор(ы) : Томас Г., Гориндж М.Дж.
Заглавие : Просвечивающая электронная микроскопия материалов
: Пер. с англ.
Выходные данные : М.: Наука, Гл. ред. физ.-мат. лит., 1983
Колич.характеристики :317 с.:
ил
Примечания : Библиогр.: с. 310 - 317
Цена : 3.90, р.
ББК : Ф XI-3 + Тх XIII-2.1
Предметные рубрики: ФИЗИКА
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): электронная микроскопия--методы исследования
Экземпляры :ХР(1)
Свободны : ХР(1)
Найти похожие
|
|
|
|
Электронный каталог (ЭК) Библиотеки Российской академии наук (БАН)
Описание ЭК