Библиотека Российской академии наук (БАН)

Библиотека Российской академии наук (БАН)

Базы данных

ЭК отдела БАН при Физико-техническом институте им. А.Ф.Иоффе РАН (ФТИ) - результаты поиска

Вид поиска

Электронный каталог (ЭК) Библиотеки Российской академии наук (БАН)

ЭК изданий на восточных языках отдела литературы стран Азии и Африки (ОЛСАА)

Имидж-каталог БАН

Рукописный фонд БАН

Фонд редкой книги БАН

Газетный фонд БАН

Подносные экземпляры из библиотеки Петра I

Рукописи старообрядцев-скрытников из Каргопольского собрания

Наука в СССР в годы Великой Отечественной войны 1941 - 1945 гг.

Русские биографические и биобиблиографические словари и справочники, 1956-2000 гг.

Санкт-Петербургские ведомости (1728 - 1781)

ЭК подразделений БАН при научно-исследовательских учреждениях (НИУ)
- ЭК подразделений БАН при НИУ физико-математического профиля
  - ЭК отдела БАН при Главной (Пулковской) астрономической обсерватории РАН (ГАО)
  - ЭК сектора БАН при Институте прикладной астрономии РАН (ИПА)
  - ЭК отдела БАН при Санкт-Петербургском отделении Математического института им. В.А. Стеклова РАН (ПОМИ)
- ЭК подразделений БАН при НИУ химического профиля
  - ЭК отдела БАН при Институте высокомолекулярных соединений РАН (ИВС)
  - ЭК отдела БАН при Институте химии силикатов им. И.В.Гребенщикова РАН (ИХС)
- ЭК подразделений БАН при НИУ биологического профиля
- ЭК подразделений БАН при НИУ геолого-географического профиля
  - ЭК сектора БАН при Институте геологии и геохронологии докембрия РАН (ИГГД)
  - ЭК отдела БАН при Институте озероведения РАН (ИНОЗ)
- ЭК подразделений БАН при НИУ общественного и гуманитарного профиля

Область поиска

в найденном

Найдено в других БД:

Электронный каталог (ЭК) Библиотеки Российской академии наук (БАН) (1198)

ЭК отдела БАН при Главной (Пулковской) астрономической обсерватории РАН (ГАО) (1)

ЭК сектора БАН при Институте прикладной астрономии РАН (ИПА) (1)

ЭК сектора БАН при Институте цитологии РАН (ИНЦ) (1)

ЭК отдела БАН при Институте истории материальной культуры РАН (ИИМК) (153)

ЭК отдела БАН при Музее антропологии и этнографии им. Петра Великого (Кунсткамера) РАН (МАЭ) (4)

ЭК сектора БАН при Институте проблем региональной экономики РАН (ИПРЭ) (18)

ЭК отдела БАН при Институте высокомолекулярных соединений РАН (ИВС) (1)

ЭК отдела БАН при Институте химии силикатов им. И.В.Гребенщикова РАН (ИХС) (12)

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=МЕТРОЛОГИЯ<.>)

Общее количество найденных документов : 124
Показаны документы с 1 по 20

1-20 21-40 41-60 61-80 81-100 101-120

1.

Залесский, В. Б.
Метрология полупроводниковых фотоэлектрических преобразователей солнечной энергии [Текст] / В.Б. Залесский, В.С. Калиновский, А.А. Ходин // Пробл. физ, математ. техн. - 2020. - №: 3 (44). - С. 22-29

Доп.точки доступа: Калиновский, В.С.; Ходин, А.А.
Найти похожие

2.

   Ф|11114
   Б87

    Брегадзе, Ю. И.
    Прикладная метрология ионизирующих излучений [Текст] / Ю.И. Брегадзе, Э.К. Степанов, В.П. Ярынаа; Под ред.: Ю.И. Брегадзе. - М. : Энергоатомиздат, 1990. - 263 с. - 1.20 р.

УДК

Рубрики: Физика

Доп.точки доступа: Степанов, Э.К.; Ярынаа, В.П.; Брегадзе, Ю.И. \ред.\
Найти похожие

3.

   Тх|6985
   М54


    Метрология в радиоэлектронике [Текст] : 7-ая Всесоюз. науч.-техн. конф., 25-27 окт., 1988, Москва / НПО "ВНИИ физ.-техн. и радиотехн. измерений". - М. : [б. и.], 1988. - 381 с. - 2.00 р.

УДК

Рубрики: Техника

Доп.точки доступа: НПО "ВНИИ физ.-техн. и радиотехн. измерений"; Всесоюзная научно-техническая конференция "Метрология и радиоэлектроника" (7; 1988; Москва)
Найти похожие

4.

Шифр: VIII 70A (Журнал)

Метрология [Текст] : ежемесячное приложение к научно-техническому журналу Измерительная техника/ Комитет стандартизации и метрологии СССР. - М : Госкомстандарт, 1969 - . - Выходит ежемесячно. - ISSN 0132-4713
Все комплекты издания списаны
Найти похожие

5.

Шифр: VII 92/8 (Журнал)

Электронная техника. Управление качеством, метрология, стандартизация. [Текст]. Сер. 8, Управление качеством, метрология, стандартизация./ Мин-во электронной промышленности. - М. : ЦНИИ Электроника, 1967 - . - Периодичность z
СВЕДЕНИЯ ОБ ИЗМЕНЕНИИ ИЗДАНИЯ: Настоящее издание
В 1977г.Электронная техника. Сер. 8.Радиодетали.
Все комплекты издания списаны
Найти похожие

6.

   Тх|7433-40
   Ф 73

    Флуктуационные и деградационные процессы в полупроводниковых приборах (метрология, диагностика, технология, учебный процесс): междунар. науч.-метод. семинар (40 ; 23-25 нояб. 2009 г. ; М.).
    Материалы докладов Международного научно-методического семинара "Флуктуационные и деградационные процессы в полупроводниковых приборах", 23-25 ноября. 2009 г., Москва [Текст] / Флуктуационные и деградационные процессы в полупроводниковых приборах (метрология, диагностика, технология, учебный процесс): междунар. науч.-метод. семинар (23-25 нояб. 2009 ; М.) , Моск. науч.-тех. о-во радиотехники, электроники и связи, Моск. энерг. ин-т (тех. ун-т). - М. : МНТОРЭС им. А. С. Попова, МЭИ, 2010. - 284 с. - Библиогр. в конце ст. - б/ц р.
Перевод заглавия: Fluctuation and degradation processes in semiconductor devices

ББК Тх ХII; 063 + Тх ХII-2.1.1 + Тх ХII-1.2.2

Рубрики: ТЕХНИКА
Кл.слова (ненормированные):
радиоэлектроника; конференции -- полупроводниковые приборы -- шумы и флуктуации
Аннотация: В настоящий сборник включены 42 доклада и сообщения, которые были заслушаны и обсуждены на 40 ежегодном научно-методическом семинаре "Флуктуационные и деградационные процессы в полупроводниковых приборах ", проходившем в Москве с 23 по 25 ноября 2009 г. Тематика докладов охватывает широкий круг вопросов - теоретические и экспериментальные исследования низкочастотных шумов в материалах и приборах на их основе, исследования долговременной стабильности параметров изделий, методы диагностики полупроводниковых приборов и интегральных схем, совершенствование технологического процесса изготовления элементов, газовые сенсоры, фотодиоды. Сборник адресован научным работникам, инженерам-исследователям и аспирантам, интересующимся изучением флуктуационных и деградационных явлений в полупроводниковых приборах. Он также будет полезен работникам КБ и предприятий, производящих элементы электронной техники, преподавателям вузов и студентам соответствующих специальностей.

Доп.точки доступа: Моск. науч.-тех. о-во радиотехники, электроники и связи; Моск. энерг. ин-т (тех. ун-т)
Найти похожие

7.

   Тх|7433-41
   Ф 73

    Флуктуационные и деградационные процессы в полупроводниковых приборах (метрология, диагностика, технология, учебный процесс): междунар. науч.-метод. семинар (41 ; 29 нояб. - 1 дек. 2010 г. ; М.).
    Материалы докладов Международного научно-методического семинара "Флуктуационные и деградационные процессы в полупроводниковых приборах", 29 ноября- 1 декабря 2010 г., Москва [Текст] / Флуктуационные и деградационные процессы в полупроводниковых приборах (метрология, диагностика, технология, учебный процесс): междунар. науч.-метод. семинар (29 нояб. - 1 дек. 2010 ; М.) , Моск. науч.-техн. о-во радиотехники, электроники и связи, Моск. энерг. ин-т (техн. ун-т). - М. : МНТОРЭС им. А. С. Попова, МЭИ, 2011. - 242 с. - Библиогр. в конце ст. - б/ц р.
Перевод заглавия: Fluctuation and degradation processes in semiconductor devices

ББК Тх ХII; 063 + Тх ХII-2.1.1 + Тх ХII-1.2.2

Рубрики: ТЕХНИКА
Кл.слова (ненормированные):
радиоэлектроника; конференции -- полупроводниковые приборы -- шумы и флуктуации
Аннотация: В настоящий сборник включены 38 докладов и сообщений, которые были заслушаны и обсуждены на 41 ежегодном научно-методическом семинаре "Флуктуационные и деградационные процессы в полупроводниковых приборах ", проходившем в Москве с 29 ноября по 1 декабря 2010 г. Тематика докладов охватывает широкий круг вопросов - теоретические и экспериментальные исследования низкочастотных шумов в материалах и приборах на их основе, исследования долговременной стабильности параметров изделий, методы диагностики полупроводниковых приборов и интегральных схем, совершенствование технологического процесса изготовления элементов, газовые сенсоры, фотодиоды. Сборник адресован научным работникам, инженерам-исследователям и аспирантам, интересующимся изучением флуктуационных и деградационных явлений в полупроводниковых приборах. Он также будет полезен работникам КБ и предприятий, производящих элементы электронной техники, преподавателям вузов и студентам соответствующих специальностей.

Доп.точки доступа: Моск. науч.-техн. о-во радиотехники, электроники и связи; Моск. энерг. ин-т (техн. ун-т)
Найти похожие

8.

   Ф|14196
   Ч-51

    Чесноков, В. В.
    Физические основы измерений [Текст] : учеб. пособие / В. В. Чесноков. - 2-е изд., испр. и доп. - Новосибирск : Изд-во СГГА, 2009. - 122 с. : ил. - Библиогр.: с. 118. - ISBN 978-5-87693-332-4 : 560.00 р.

ББК Ф I-12.1

Рубрики: ФИЗИКА
Кл.слова (ненормированные):
МЕТРОЛОГИЯ -- ИЗМЕРЕНИЯ
Аннотация: Настоящее учебное пособие представляет собой курс лекций, разработанный в соответствии с требованиями, предъявляемыми Государственными образовательными стандартами 2000 года к подготовке инженеров приборостроения в области стандартизации, сертификации и метрологии. В пособии рассматриваются физические основы измерений, то есть изучаются самые общие принципы методов измерений физических величин, причины возникающих при измерениях погрешностей, фундаментальные пределы достижимой точности измерений. Пособие может представлять интерес для студентов приборостроительных и оптотехнических направлений подготовки, а также для инженеров и научных работников.

Найти похожие

9.

   Тх|7433-43
   Ф 73

    Флуктуационные и деградационные процессы в полупроводниковых приборах (метрология, диагностика, технология, учебный процесс): междунар. науч.-метод. семинар (43 ; 27-28 нояб. 2012 г. ; М.).
    Материалы докладов Международного научно-методического семинара "Флуктуационные и деградационные процессы в полупроводниковых приборах", 27-28 ноября. 2012 г., Москва [Текст] / Флуктуационные и деградационные процессы в полупроводниковых приборах (метрология, диагностика, технология, учебный процесс): междунар. науч.-метод. семинар (43 ; 27-28 нояб. 2012 г. ; М.) , Моск. науч.-техн. о-во радиотехники, электроники и связи, Нац. исслед. ун-т "МЭИ". - М. : МНТОРЭС им. А. С. Попова, НИУ "МЭИ", 2012. - 266 с. - Библиогр. в конце ст. - б/ц р.
Перевод заглавия: Fluctuation and degradation processes in semiconductor devices

ББК Тх ХII; 063 + Тх ХII-2.1.1 + Тх ХII-1.2.2

Рубрики: ТЕХНИКА
Кл.слова (ненормированные):
радиоэлектроника; конференции -- полупроводниковые приборы -- шумы и флуктуации
Аннотация: В настоящий сборник включены 41 доклад и сообщениz, которые были заслушаны и обсуждены на 43 ежегодном научно-методическом семинаре "Флуктуационные и деградационные процессы в полупроводниковых приборах ", проходившем в Москве с 27 по 28 ноября 2012 г. Тематика докладов охватывает широкий круг вопросов - теоретические и экспериментальные исследования низкочастотных шумов в материалах и приборах на их основе, исследования долговременной стабильности параметров изделий, методы диагностики полупроводниковых приборов и интегральных схем, совершенствование технологического процесса изготовления элементов, газовые сенсоры, фотодиоды. Сборник адресован научным работникам, инженерам-исследователям и аспирантам, интересующимся изучением флуктуационных и деградационных явлений в полупроводниковых приборах. Он также будет полезен работникам КБ и предприятий, производящих элементы электронной техники, преподавателям вузов и студентам соответствующих специальностей.

Доп.точки доступа: Моск. науч.-техн. о-во радиотехники, электроники и связи; Нац. исслед. ун-т "МЭИ"
Найти похожие

10.

   Тх|7433-42
   Ф 73

    Флуктуационные и деградационные процессы в полупроводниковых приборах (метрология, диагностика, технология, учебный процесс): междунар. науч.-метод. семинар (42 ; 28-30 нояб. 2011 г. ; М.).
    Материалы докладов Международного научно-методического семинара "Флуктуационные и деградационные процессы в полупроводниковых приборах", 28-30 ноября. 2011 г., Москва [Текст] / Флуктуационные и деградационные процессы в полупроводниковых приборах (метрология, диагностика, технология, учебный процесс): междунар. науч.-метод. семинар (42 ; 28-30 нояб. 2011 г. ; М.) , Моск. науч.-техн. о-во радиотехники, электроники и связи, Нац. исслед. ун-т "МЭИ". - М. : МНТОРЭС им. А. С. Попова, НИУ "МЭИ", 2012. - 229 с. - Библиогр. в конце ст. - б/ц р.
Перевод заглавия: Fluctuation and degradation processes in semiconductor devices

ББК Тх ХII; 063 + Тх ХII-2.1.1 + Тх ХII-1.2.2

Рубрики: ТЕХНИКА
Кл.слова (ненормированные):
радиоэлектроника; конференции -- полупроводниковые приборы -- шумы и флуктуации
Аннотация: В настоящий сборник включены 37 докладов и сообщений, которые были заслушаны и обсуждены на 42 ежегодном научно-методическом семинаре "Флуктуационные и деградационные процессы в полупроводниковых приборах ", проходившем в Москве с 28 по 30 ноября 2011 г. Тематика докладов охватывает широкий круг вопросов - теоретические и экспериментальные исследования низкочастотных шумов в материалах и приборах на их основе, исследования долговременной стабильности параметров изделий, методы диагностики полупроводниковых приборов и интегральных схем, совершенствование технологического процесса изготовления элементов, газовые сенсоры, фотодиоды. Сборник адресован научным работникам, инженерам-исследователям и аспирантам, интересующимся изучением флуктуационных и деградационных явлений в полупроводниковых приборах. Он также будет полезен работникам КБ и предприятий, производящих элементы электронной техники, преподавателям вузов и студентам соответствующих специальностей.

Доп.точки доступа: Моск. науч.-техн. о-во радиотехники, электроники и связи; Нац. исслед. ун-т "МЭИ"
Найти похожие

11.

   Ф|3233
   Б 17

    Базакуца, В. А.
    Международная система единиц [Текст] / В. А. Базакуца. - 2-е изд., испр. и доп. - Харьков : Харьковский ун-т, 1966. - 176 с. - Библиогр.: с. 170. - 0.42 р.

ББК Ф I-12

Рубрики: ФИЗИКА
Кл.слова (ненормированные):
метрология

Доп.точки доступа: Бурдун, Г.Д. \ред.\
Найти похожие

12.

   Ф|3161
   К 27

    Карташева, А. Н.
    Достоверность измерений и критерии качества испытаний приборов [Текст] / А. Н. Карташева. - М. : Стандартгиз, 1967. - 158 с. : ил. - Библиогр.: с. 156-158. - 0.51 р.

ББК Ф I-12

Рубрики: ФИЗИКА
Кл.слова (ненормированные):
метрология

Найти похожие

13.

   Тх VII|Р-831
   Р83

    Рудзит, А. А.
    Основы метрологии, точность и надежность в приборостроении [Текст] : учеб. пособие для вузов / А.А. Рудзит, В.Н. Плуталов. - М. : Машиностроение, 1991. - 303 с. : ил. - Библиогр.: с.294 -Предм. указ.: с.295-300 . - 3.00 р.
Кл.слова (ненормированные):
МЕТРОЛОГИЯ -- ПРИБОРОСТРОЕНИЕ

Доп.точки доступа: Плуталов, В.Н.
Найти похожие

14.

   Ф|3259
   Ч-50

    Чертов, Александр Георгиевич .
    Международная система единиц измерений [Текст] / А. Г. Чертов. - 2-е изд., перераб. и доп. - М. : Высшая школа, 1967. - 287 с. : ил. - Библиогр.: с. 212-214. - 0.69 р.

ББК Ф I-12

Рубрики: ФИЗИКА
Кл.слова (ненормированные):
метрология

Найти похожие

15.

   Ф|3352
   К 57

    Коган, Б. Ю.
    Размерность физической величины [Текст] / Б. Ю. Коган. - М. : Наука , 1968. - 71 с. : ил. - (Физика)). - 0.08 р.

ББК Ф I-12

Рубрики: ФИЗИКА
Кл.слова (ненормированные):
метрология; размерности

Найти похожие

16.

   Ф|3349
   Т 33


    Теория подобия и размерностей. Моделирование [Текст] : учеб. пособие для втузов / П. М. Алабужев [и др.]. - М. : Высшая школа, 1968. - 206 с. : ил. - Библиогр.: с. 199-204. - 0.36 р.

ББК Ф I-12; 075 + Ф I-1.4

Рубрики: ФИЗИКА
Кл.слова (ненормированные):
метрология; учеб. пособие -- теория подобия; моделирование

Доп.точки доступа: Алабужев, П.М.; Геронимус, В.Б.; Минкевич, Л.М.; Шеховцов, Б.А.
Найти похожие

17.

   Ф|3348
   P21

    Pankhurst, R. Ch.
    Dimensional analysis and scale factors [Текст] / R. Ch. Pankhurst. - London ; New York : Chapman and Hall - Reinhold, 1964. - 151 с. : ил. - (The Institute of physics and the physical society. Monographs for students). - Библиогр.: с. 140-142. - 1.00 р.

ББК Ф I-12

Рубрики: ФИЗИКА
Кл.слова (ненормированные):
метрология

Найти похожие

18.

   Тх|7433-39
   Ф 73

    Флуктуационные и деградационные процессы в полупроводниковых приборах (метрология, диагностика, технология, учебный процесс): междунар. науч.-метод. семинар (39 ; 25-27 нояб. 2009 г. ; М.).
    Материалы докладов Международного научно-методического семинара "Флуктуационные и деградационные процессы в полупроводниковых приборах", 25-27ноября. 2008 г., Москва [Текст] / Флуктуационные и деградационные процессы в полупроводниковых приборах (метрология, диагностика, технология, учебный процесс): междунар. науч.-метод. семинар (25-27 нояб. 2009 ; М.) , Моск. науч.-техн. о-во радиотехники, электроники и связи, Моск. энерг. ин-т (техн. ун-т). - М. : МНТОРЭС им. А. С. Попова, МЭИ, 2009. - 262 с. - Библиогр. в конце ст. - б/ц р.
Перевод заглавия: Fluctuation and degradation processes in semiconductor devices

ББК Тх ХII; 063 + Тх ХII-2.1.1 + Тх ХII-1.2.2

Рубрики: ТЕХНИКА
Кл.слова (ненормированные):
радиоэлектроника; конференции -- полупроводниковые приборы -- шумы и флуктуации
Аннотация: В настоящий сборник включены 42 доклада и сообщения, которые были заслушаны и обсуждены на 39 ежегодном научно-методическом семинаре "Флуктуационные и деградационные процессы в полупроводниковых приборах ", проходившем в Москве с 25 по 27 ноября 2008 г. Тематика докладов охватывает широкий круг вопросов - теоретические и экспериментальные исследования низкочастотных шумов в материалах и приборах на их основе, исследования долговременной стабильности параметров изделий, методы диагностики полупроводниковых приборов и интегральных схем, совершенствование технологического процесса изготовления элементов, газовые сенсоры, фотодиоды. Сборник адресован научным работникам, инженерам-исследователям и аспирантам, интересующимся изучением флуктуационных и деградационных явлений в полупроводниковых приборах. Он также будет полезен работникам КБ и предприятий, производящих элементы электронной техники, преподавателям вузов и студентам соответствующих специальностей.

Доп.точки доступа: Моск. науч.-техн. о-во радиотехники, электроники и связи; Моск. энерг. ин-т (техн. ун-т)
Найти похожие

19.

   Ф|13382
   Ф 53

    Филиппов, Г. Г.
    Теория размерностей и LTM-физика [Текст] / Г.Г. Филиппов. - 2-е изд., доп. - М. : ЛИБРОКОМ, 2009. - 120 с. : ил. - Библиогр.: с. 112-113. - ISBN 978-5-397-00078-9 : 117.81 р.

ББК Ф I-12.1

Рубрики: ФИЗИКА
Кл.слова (ненормированные):
МЕТРОЛОГИЯ; ЕДИНИЦЫ ИЗМЕРЕНИЯ -- РАЗМЕРНОСТИ
Аннотация: Понятие размерности физической величины относится к числу наиболее фундаментальных понятий в физике. В книге предпринята попытка дать аксиоматическое построение теории размерностей на основе трех символьных единиц измерения - длины (L), времени (T) и массы (M). Для электрического заряда предложено использовать размерность длины, для термодинамической температуры - размерность обратной длины. Проанализированы следствия такого выбора, подтверждающие его целесообразность. Книга представляет интерес для широкого круга специалистов в области физики и студентов, обучающихся по естественно-научным направлениям.

Найти похожие

20.

   Ф|13642
   С 14

    Садовский, Г. А.
    Теоретические основы информационно-измерительной техники: задачи и упражнения [Текст] : учеб. пособие для вузов / Г.А. Садовский. - М. : Высш. шк., 2009. - 212, [3] с. : ил. - Библиогр.: с. 214. - ISBN 978-5-06-005738-6 : 3050.74 р.

ББК Ф I-12.1

Рубрики: ФИЗИКА
Кл.слова (ненормированные):
МЕТРОЛОГИЯ -- ЕДИНИЦЫ ИЗМЕРЕНИЯ
Аннотация: В книге рассмотрены основные положения метрологии, основы теории оценивания параметров случайных величин, проверка статистических гипотез и обработка результатов измерений. Особое внимание уделено метрологическим характеристикам средств измерений в статистическом и динамическом режимах работы и их метрологическому обеспечению, а также методике расчета погрешностей.

Найти похожие

1-20 21-40 41-60 61-80 81-100 101-120

Описание ЭК

Стандартный

Расширенный

Профессиональный

По словарю