Поисковый запрос: (<.>A=Малыгин, Г. А.$<.>) |
Общее количество найденных документов : 98
Показаны документы с 1 по 10 |
|
1.
| Малыгин Г.А. Анализ структурных факторов, определяющих образование шейки при растяжении металлов и сплавов с ГЦК-решеткой/Г.А. Малыгин // ФТТ, 2005. т.Т.:47,N №:2.-С.236-241
|
2.
| Малыгин Г.А. Анализ факторов, вызывающих нестабильность деформации и потерю пластичности облученной нейтронами меди/Г.А. Малыгин // ФТТ, 2005. т.Т.:47,N №:4.-С.632-638
|
3.
| Малыгин Г.А. Структурные факторы, влияющие на устойчивость пластической деформации при растяжении металлов с ОЦК решеткой/Г.А. Малыгин // ФТТ, 2005. т.Т.:47,N №:5.-С.870-875
|
4.
| Малыгин Г.А. Влияние дисперсных частиц на образование бездефектных каналов и стабильность деформации облученных нейтронами металлов/Г.А. Малыгин // ФТТ, 2005. т.Т.:47,N №:7.-С.1247-1252
|
5.
| Малыгин Г.А. Механизм снижения прочности субмикроразмерных образцов ГЦК-металлов с нанокристаллической структурой/Г.А. Малыгин // ФТТ, 2017. т.Т.:59,N №:2.-С.312-317
|
6.
| Малыгин Г.А. Размерные эффекты при ударном пластическом сжатии наноразмерных кристаллов/Г.А. Малыгин, О.В. Клявин // ФТТ, 2017. т.Т.:59,N №:10.-С.1964-1969
|
7.
| Межфазные напряжения и аномальный вид кривых термоупругой деформации сплава Cu-Al-Ni с эффектом памяти формы/Г.А. Малыгин, В.И. Николаев, С.А. Пульнев, А.В. Чикиряка // Письма ЖТФ, 2017. т.Т.:43,N №:24.-С.39-45
|
8.
| Малыгин Г.А. Механизм пластического коллапса наноразмерных кристаллов с ОЦК-решеткой при одноосном сжатии/Г.А. Малыгин // ФТТ, 2018. т.Т.:60,N №:6.-С.1232-1237
|
9.
| Малыгин Г.А. Механизм влияния поли- и нанокристалличности на параметры кривых псевдоупругой деформации сплавов с эффектом памяти формы/Г.А. Малыгин // ФТТ, 2018. т.Т.:60,N №:10.-С.1990-1994
|
10.
| Взрывной характер термоупругой деформации памяти формы в ферромагнитном сплаве Ni-Fe-Ga-Co /В.И. Николаев, П.Н. Якушев, Г.А. Малыгин, С.А. Пульнев // Письма ЖТФ, 2010. т.Т.:36,N №:19.-С.83-90
|
|
|
|
Электронный каталог (ЭК) Библиотеки Российской академии наук (БАН)
Описание ЭК