1. | В338.48
Goldstein, Joseph I . Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis / Joseph I. Goldstein, Dale E. Newbury, Patrick Echlin et al. - 3. ed. - New York etc. : Kluwer acad. / Plenum publ., 2003. - XIX, 689 c. : ил. ; 26 см + CD-ROM. - Библиогр. в конце ст. Указ.: с. 675-689. - ISBN 0-306-47292-9 : 2844 р. Перевод заглавия: Сканирующая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ.ББК В338.48 + Г461.4-6
Доп.точки доступа: Goldstein, Joseph I; Echlin, Patrick; Newbury, Dale E Найти похожие
|