1. | 22.3773 С 78 2019к/2216 / С 78-Осн.ф.
Статистический анализ микроструктуры поверхности сканирующим зондовым микроскопом : [лабораторный практикум] / Макрушина А. Н., Зырянова А. И., Макаров С. В., Плотников В. А. - Барнаул : Колмогоров И. А., 2016. - 68 с. : ил., табл. ; 21 см. - 50 экз.. - ISBN 978-5-91556-315-4 : 25 р.ББК В371.215 + В371.25 Другая классификация 22.3773
Рубрики: Пленки тонкие - Микроскопические исследования - Обработка результатов
Доп.точки доступа: Макрушина, А. Н.; Зырянова, А. И.; Макаров, Сергей Викторович; Плотников, Владимир Александрович Найти похожие
|