Поисковый запрос: (<.>S=Рентгеноструктурный анализ<.>) |
Общее количество найденных документов : 16
Показаны документы с 1 по 10 |
|
| 1. | 2007к/4679
Плошкин, Всеволод Викторович .
Взаимодействие рентгеновского излучения с веществом и общая теория рассеяния : учеб. пособие / В. В. Плошкин ; М-во образования Рос. Федерации, Моск. гос. индустр. ун-т. - М. : МГИУ, 2003. - 50 с. : ил. ; 21 см.. - Библиогр.: с. 49. - ISBN 5-276-00483-8.
ББК 22.37я73
Рубрики: Рентгеновские лучи - Взаимодействие с веществом
Рентгеноструктурный анализ
Доп.точки доступа: Плошкин, Всеволод Викторович
Найти похожие
| |
| 2. | Ак.с.
Современные методы анализа дифракционных данных : (топография, дифрактометрия, электрон. микроскопия) : программа и тез. докл. второго науч. семинара с междунар. участием, 26-28 мая 2004 г. / [сост. В. А. Ткаль]. - Великий Новгород : НовГУ, 2004. - 144 с. : ил. ; 29 см.. - В надзаг.: Рос. акад. наук, Физ.-техн. ин-т им. А. Ф. Иоффе, М-во образования Рос. Федерации, Новгор. гос. ун-т им. Ярослава Мудрого. - Библиогр. в конце докл. - Алф. указ. авт.: с. 143
ББК 22.37
Рубрики: Рентгеноструктурный анализ
Доп.точки доступа: Ткаль, Валерий Алексеевич
Найти похожие
| |
| 3. | 2008к/8903
Андреева, Валентина Дмитриевна .
Методы анализа. Рентгеноструктурный анализ : учеб. пособие / В. Д. Андреева, М. И. Анисимов, Е. В. Новиков ; М-во образования Рос. Федерации, С.-Петерб. гос. политехн. ун-т. - СПб. : Изд-во СПбГПУ, 2004. - 97 с. : ил. ; 20 см.. - Библиогр.: с. 94. - ISBN 5-7422-0582-1.
ББК 22.37я73
Рубрики: Рентгеноструктурный анализ
Доп.точки доступа: Андреева, Валентина Дмитриевна; Анисимов, Михаил Иванович; Новиков, Евгений Васильевич
Найти похожие
| |
| 4. | Ак.с.
Фетисов, Геннадий Владимирович .
Синхротронное излучение : методы исслед. структуры веществ : [учеб. пособие для ст. курсов по специальности 020101 (011000) "Химия"] / Г. В. Фетисов ; под ред. Л. А. Асланова. - М. : Физматлит, 2007. - 671 с. : ил. ; 25 см.. - (Фундаментальная и прикладная физика). - Библиогр.: с. 636-663. - Предм. указ.: с. 664-671. - ISBN 978-5-9221-0805-8 (в пер.) .
ББК В338я73-1
Рубрики: Синхротронное излучение
Рентгеноструктурный анализ
Доп.точки доступа: Фетисов, Геннадий Владимирович; Асланов, Леонид Александрович \ред.\
Найти похожие
| |
| 5. | Ак.с.
Современные методы анализа дифракционных данных = Modern methods of diffraction data analysis : (топография, дифрактометрия, электрон. микроскопия) : сб. материалов и программа первой междунар. науч. шк.-семинара, 21-25 мая 2007 г. / [сост. Ткаль В. А., Окунев А. О.]. - Великий Новгород : НовГУ, 2007. - 172 с. : ил. ; 30 см.. - В надзаг.: Физ.-техн. ин-т им. А. Ф. Иоффе РАН, Ин-т проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН, Моск. гос. ун-т им. М. В. Ломоносова, Новгор. гос. ун-т им. Ярослава Мудрого. - Доп. тит. л. англ. - Библиогр. в примеч. в конце докл.. - ISBN 978-5-89896-340-8.
ББК 22.37
Рубрики: Рентгеноструктурный анализ
Доп.точки доступа: Ткаль, Валерий Алексеевич; Окунев, Алексей Олегович; Физико-технический институт им. А. Ф. Иоффе
Найти похожие
| |
| 6. | 2010к/17216
Рентгенография и электронная микроскопия материалов : [учеб. пособие для вузов по направлению подгот. 140400 "Техн. физика"] / В. Д. Андреева, Е. В. Новиков, И. К. Боричева, А. Б. Спешилова. - СПб. : Изд-во Политехн. ун-та, 2008. - 180 с. : ил. ; 20 см.. - (Приоритетные национальные проекты) (Образование) (Инновационная образовательная программа Санкт-Петербургского государственного политехнического университета / Федер. агентство по образованию). - Библиогр.: с. 180. - ISBN 978-5-7422-1994-1.
ББК 22.37я73
Рубрики: Рентгеноструктурный анализ
Электронная микроскопия
Доп.точки доступа: Андреева, Валентина Дмитриевна; Новиков, Евгений Васильевич; Боричева, И. К.; Спешилова, Анастасия Борисовна
Найти похожие
| |
| 7. | 2012к/22684
Антошина, И. А. .
Структурные методы исследования материалов и процессов : учеб. пособие по курсу "Кристаллография, рентгенография и электр. микроскопия" / И. А. Антошина, В. С. Хмелевская ; Федер. агентство по образованию, Обнин. гос. техн. ун-т атом. энергетики (ИАТЭ), физ.-энергет. фак. - Обнинск : ИАТЭ, 2009. - 83 с. : ил. ; 21 см.. - Библиогр.: с. 82. - 67 экз.
ББК 30.121я73 Ж3-1с38я73-1
Рубрики: Рентгеноструктурный анализ
Доп.точки доступа: Хмелевская, В. С.
Найти похожие
| |
| 8. | 2024к/9621
Кузьмичева, Галина Михайловна. Рентгенография наноразмерных объектов : [учебное пособие] / Г. М. Кузьмичева; М-во образования и науки Рос. Федерации, Моск. гос. акад. тон. хим. технологии им. М. В. Ломоносова, каф. физики и химии твердого тела. - Москва : МИТХТ, 2010- - . - 22 см.
Ч. 2 . - 2010. - 79 с. : ил.
ББК 22.37я73
Рубрики: Рентгеноструктурный анализ
Найти похожие
| |
| 9. | 2019к/17936
Орешко, Алексей Павлович .
Интерференционные явления в резонансной дифракции рентгеновского излучения : [учебное пособие] / А. П. Орешко, Е. Н. Овчинникова, В. Е. Дмитриенко ; под ред. А. С. Илюшина ; Московский государственный университет имени М. В. Ломоносова, Физический факультет. - Москва : ОнтоПринт : Мархотин П. Ю., 2012. - 161 с. : ил. ; 21 см. - Библиогр.: с. 147-161. - 100 экз.. - ISBN 978-5-905722-04-2.
ББК 22.38я73 В338
Рубрики: Рентгеновские лучи - Дифракция
Рентгеноструктурный анализ
Доп.точки доступа: Овчинникова, Елена Николаевна; Дмитриенко, Владимир Евгеньевич; Илюшин, Александр Сергеевич \ред.\
Найти похожие
| |
| 10. | 2016к/6706
Ошурина, Любовь Анатольевна. Рентгеноструктурный и электронно-микроскопический анализ : [учебное пособие для факультета высокотемпературных технологий : в 2 ч.] / Л. А. Ошурина; М-во образования и науки Рос. Федерации, Нижегор. гос. техн. ун-т им. Р. Е. Алексеева. - Нижний Новгород : НГТУ, 2010 - . - 20 см
Ч. 1 . - 2010. - 89, [1] с. : ил. . - Библиогр.: с. 90. - 150 экз.. - ISBN 978-5-93272-821-5.
ББК 34.2я73 В371.213я73-1 В371.215я73-1
Рубрики: Рентгеноструктурный анализ
Электронная микроскопия
Найти похожие
| |
|
|
|
Электронный каталог (ЭК) Библиотеки Российской академии наук (БАН)
Описание ЭК