Поисковый запрос: (<.>K=scanning<.>) |
Общее количество найденных документов : 45
Показаны документы с 1 по 10 |
|
| 1. | В338.48
Scanning probe microscopy: Analytical methods / Roland Wiesendanger(ed.). - Berlin etc. : Springer, 1998. - XI, 216 с. : ил. ; 24 см. - (Nanoscience a. technology, ISSN 1434-4904). - Библиогр. в конце глав. Указ.: с. 211-216. - ISBN 3-540-63815-6 : 472 р.
Перевод заглавия: Скнирующая зондовая микроскопия. Аналитические методы.ББК В338.48
Доп.точки доступа: Wiesendanger, Roland (1961- )
Найти похожие
|
| 2. | К663.05
Maile, Frank Jochen (1966- ).
Neue Einsatzgebiete der Scanning Reference Electrode Technique (SRET) : abh. ... Univ. Stuttgart / Vorgelegt von Frank Jochen Maile. - Stuttgart : [s. n.], 2000. - 271 c. : ил. ; 21 см. - Библиогр.: с. 257-267. - 25 р.
Перевод заглавия: Область применения стандартной электролитической технологии со сканированиемББК К663.05
Доп.точки доступа: Maile, Frank Jochen (1966- )
Найти похожие
|
| 3. |
Suvorov, A. L.
Study of surface and volume defects in carbon and silicon by methods of field ion and scanning tunneling microscopy / A.L.Suvorov, Yu.N.Cheblukov, N.E.Lazarev et al. - М. : [s. n.], 1998. - 12 с. : ил. ; 20 см. - (Препр. / Ин-т теорет. и эксперим. физики. ; 24-98). - Библиогр.:c.12. - 2 р.
Доп.точки доступа: Suvorov, A. L.; Lazarev, N. E.; Cheblukov, Yu. N.; Институт теоретической и экспериментальной физики.
Найти похожие
|
| 4. | В371.26
Vegte, Eric Willem van der (1968- ).
Chemical and physical surface properties studied with scanning force microscopy : proefschr. ... Rijksuniv. Groningen / Door Eric Willem van der Vegte. - Groningen : [s. n.], 1997. - 146 c. : ил. ; 24 см. - Библиогр. в конце глав. - Рез. нидерл. - ISBN 90-367-0850-8 : 25 р.
Перевод заглавия: Химические и физические свойства поверхности, исследуемые методом сканирующей силовой микроскопии.ББК В371.26 + Г58 + В338.48
Доп.точки доступа: Vegte, Eric Willem van der (1968- )
Найти похожие
|
| 5. | В338.48
Atomic force microscopy/scanning tunneling microscopy(AFM/STM) symposium (1 ; 1993 ; Natick,MA).
Atomic force microscopy/scanning tunneling microscopy : proc. of the First U. S. Army Natick research, development a. engineering center Atomic force microscopy/scanning tunneling microscopy(AFM/STM) symp., held June 8-10, 1993, in Natick, Massachusetts / Ed.by Samuel H. Cohen et al. - New York;London : Plenum press, 1994. - X,453 с. : ил. ; 26 см. - Библиогр. в конце ст. Указ.: с. 451-453. - ISBN 0-306-44890-4 : 825000 р.
Перевод заглавия: Атомно-силовая микроскопия или сканирующая туннельная микроскопияББК В338.48
Доп.точки доступа: Cohen, Samuel; United States.
Найти похожие
|
| 6. | З843.412
Nanoscale characterization of ferroelectric materials : scanning probe microscopy approach / M. Alexe, A. Gruverman (eds.). - Berlin etc. : Springer, 2004. - XIII, 282 c. : ил. ; 24 см. - (NanoScience a. technology, ISSN 1434-4904). - Библиогр. в конце ст. Указ.: с. 279-282. - ISBN 3-540-20662-0 : 4367.66 р.
Перевод заглавия: Маломасштабная характеристика сегнетоэлектрических материалов.ББК З843.412
Доп.точки доступа: Alexe, Marin; Gruverman, Alexei
Найти похожие
|
| 7. | В338.48
Goldstein, Joseph I .
Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis / Joseph I. Goldstein, Dale E. Newbury, Patrick Echlin et al. - 3. ed. - New York etc. : Kluwer acad. / Plenum publ., 2003. - XIX, 689 c. : ил. ; 26 см + CD-ROM. - Библиогр. в конце ст. Указ.: с. 675-689. - ISBN 0-306-47292-9 : 2844 р.
Перевод заглавия: Сканирующая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ.ББК В338.48 + Г461.4-6
Доп.точки доступа: Goldstein, Joseph I; Echlin, Patrick; Newbury, Dale E
Найти похожие
|
| 8. | Р252.215
O-80
2000л/98 / O-80-Осн.ф.
Orsouw, Nathalie Jane van (1968- ).
Design and applications of mutation detection in large genes by two-dimensional gene scanning : proefschr. ... Rijksuniv. Groningen / Door Nathalie Jane van Orsouw. - Groningen : [s. n.], 1998. - 144 c. : ил. ; 24 см. - Библиогр. в конце глав. - Рез. нидерл. - ISBN 90-367-0998-9 : 25 р.
Перевод заглавия: Конструирование и применение методики выявления мутаций в крупных генах с помощью двумерного сканирования генаББК Р252.215 + Е742.212.1
Доп.точки доступа: Orsouw, Nathalie Jane van (1968- )
Найти похожие
|
| 9. | З973.4-018.2
Gookin, Dan .
Digital scanning and photography / Dan Gookin. - Redmond (WA) : Microsoft press, cop. 2000. - X, 182 c. : ил. ; 24 см. - Указ.: c. 171-182. - ISBN 0-7356-1012-6 : 364 р.
Перевод заглавия: Цифровое сканирование и фотографияББК З973.4-018.2
Доп.точки доступа: Gookin, Dan
Найти похожие
|
| 10. | Л72
Д 50
Дифференциальная сканирующая калориметрия (ДСК) = Plastics. Differential scanning calorimetry (DSC) : национальный стандарт Российской Федерации : издание официальное : введен впервые : дата введения 2017-01-01 / Подготовлен ФГУП "Всероссийский научно-исследоват. ин-т авиацион. материалов?; ОАО ?НПО Стеклопластик?, ОЮЛ "Союз производителей композитов". - Москва : Стандартинформ, 2016. - II, 13 c. ; 29 см. - (Пластмассы). - Настоящий стандарт является модифицированным по отношению к международному стандарту ИСО 11357-4:2005 "Пластмассы. Дифференциальная сканирующая калориметрия (ДСК). Часть4. Определение удельной теплоемкости" (ISО 11357-4:2005 "Plastics - Differential scanning calorimetry (DSC) - Part 4: Determination of specific heat capacity"). - Утвержден и введен в действие Приказом Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии от 24 ноября 2015 г. № 1956-ст. - Б. ц.ББК 83.080.01
Другая классификация Л72
Доп.точки доступа: Всероссийский научно-исследовательский институт авиационных материалов; Союз производителей композитов; НПО Стеклопластик; Российская Федерация
Найти похожие
|
|
|
|
Электронный каталог (ЭК) Библиотеки Российской академии наук (БАН)
Описание ЭК