Библиотека Российской академии наук (БАН)

Базы данных


Электронный каталог (ЭК) Библиотеки Российской академии наук (БАН) - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
в найденном
 Найдено в других БД:ЭК изданий на восточных языках отдела литературы стран Азии и Африки (ОЛСАА) (2)ЭК отдела БАН при Физико-техническом институте им. А.Ф.Иоффе РАН (ФТИ) (117)ЭК отдела БАН при Ботаническом институте им. В.Л.Комарова РАН (БИН) (5)ЭК отдела БАН при Зоологическом институте РАН (ЗИН) (42)ЭК сектора БАН при Институте цитологии РАН (ИНЦ) (3)ЭК отдела БАН при Институте физиологии им.И.П.Павлова РАН (ИФП) (2)ЭК сектора БАН при Институте эволюционной физиологии и биохимии им. И.М.Сеченова РАН (ИЭФБ) (1)ЭК отдела БАН при Институте высокомолекулярных соединений РАН (ИВС) (2)ЭК отдела БАН при Институте химии силикатов им. И.В.Гребенщикова РАН (ИХС) (1)
Формат представления найденных документов:
полныйкраткийкарточка БАН
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=scanning<.>)
Общее количество найденных документов : 45
Показаны документы с 1 по 10
 1-10    11-20   21-30   31-40   41-45 
1. 620.181.4/543.572
Д 50


   
    Дифференциальная сканирующая калориметрия
(ДСК). Часть 5. Определение характеристических температур и времени по кривым реакции, определение энтальпии и степени превращения = Plastics. Differential scanning calorimetry (DSC). Part 5. Determination of characteristic reaction-curve temperatures and times, enthalpy of reaction and degree of conversion : национальный стандарт Российской Федерации : издание официальное : введен впервые : утвержден и введен в действие Приказом Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии от 24 ноября 2015 г. № 1957-ст : дата введения 2017-01-01 / Подготовлен ФГУП "Всероссийский науч.-исследовательский ин-т авиационных материалов", ОАО "НПО Стеклопластик", ОЮЛ "Союз производителей композитов". - Москва : Стандартинформ, II, 11, [1] c. - ; 29 см. - (Пластмассы = Plastics). - Настоящий стандарт является модифицированным по отношению к международному стандарту ИСО 11357-5:1999 "Пластмассы. Дифференциальная сканирующая калориметрия (ДСК). Часть 5. Определение характеристических температур и времени по кривым реакции, определение энтальпии и степени превращения" (ISО 11357-5:1999 "Plastics - Differential scanning calorimetry (DSC) - Part 5: Determination of characteristic reaction-curve temperatures and times, enthalpy of reaction and degree of conversion"). - Б. ц.
УДК
ББК 83.080.01


Доп.точки доступа: Всероссийский научно-исследовательский институт авиационных материалов
Найти похожие

2. В338.48

    Atomic force microscopy/scanning tunneling microscopy(AFM/STM) symposium (1 ; 1993 ; Natick,MA).

    Atomic force microscopy/scanning tunneling microscopy : proc. of the First U. S. Army Natick research, development a. engineering center Atomic force microscopy/scanning tunneling microscopy(AFM/STM) symp., held June 8-10, 1993, in Natick, Massachusetts / Ed.by Samuel H. Cohen et al. - New York;London : Plenum press, 1994. - X,453 с. : ил. ; 26 см. - Библиогр. в конце ст. Указ.: с. 451-453. - ISBN 0-306-44890-4 : 825000 р.
Перевод заглавия: Атомно-силовая микроскопия или сканирующая туннельная микроскопия

ГРНТИ
ББК В338.48


Доп.точки доступа: Cohen, Samuel; United States.
Найти похожие

3. В371.26

    Vegte, Eric Willem van der (1968- ).

    Chemical and physical surface properties studied with scanning force microscopy : proefschr. ... Rijksuniv. Groningen / Door Eric Willem van der Vegte. - Groningen : [s. n.], 1997. - 146 c. : ил. ; 24 см. - Библиогр. в конце глав. - Рез. нидерл. - ISBN 90-367-0850-8 : 25 р.
Перевод заглавия: Химические и физические свойства поверхности, исследуемые методом сканирующей силовой микроскопии.

ГРНТИ
ББК В371.26 + Г58 + В338.48


Доп.точки доступа: Vegte, Eric Willem van der (1968- )
Найти похожие

4.

    Suvorov, A. L.
    Study of surface and volume defects in carbon and silicon by methods of field ion and scanning tunneling microscopy / A.L.Suvorov, Yu.N.Cheblukov, N.E.Lazarev et al. - М. : [s. n.], 1998. - 12 с. : ил. ; 20 см. - (Препр. / Ин-т теорет. и эксперим. физики. ; 24-98). - Библиогр.:c.12. - 2 р.


Доп.точки доступа: Suvorov, A. L.; Lazarev, N. E.; Cheblukov, Yu. N.; Институт теоретической и экспериментальной физики.
Найти похожие

5. Р252.215
O-80
2000л/98 / O-80-Осн.ф.


    Orsouw, Nathalie Jane van (1968- ).
    Design and applications of mutation detection in large genes by two-dimensional gene scanning : proefschr. ... Rijksuniv. Groningen / Door Nathalie Jane van Orsouw. - Groningen : [s. n.], 1998. - 144 c. : ил. ; 24 см. - Библиогр. в конце глав. - Рез. нидерл. - ISBN 90-367-0998-9 : 25 р.
Перевод заглавия: Конструирование и применение методики выявления мутаций в крупных генах с помощью двумерного сканирования гена

ГРНТИ
ББК Р252.215 + Е742.212.1


Доп.точки доступа: Orsouw, Nathalie Jane van (1968- )
Найти похожие

6. В338.48

   

    Scanning probe microscopy:
Analytical methods / Roland Wiesendanger(ed.). - Berlin etc. : Springer, 1998. - XI, 216 с. : ил. ; 24 см. - (Nanoscience a. technology, ISSN 1434-4904). - Библиогр. в конце глав. Указ.: с. 211-216. - ISBN 3-540-63815-6 : 472 р.
Перевод заглавия: Скнирующая зондовая микроскопия. Аналитические методы.

ГРНТИ
ББК В338.48


Доп.точки доступа: Wiesendanger, Roland (1961- )
Найти похожие

7. К663.05

    Maile, Frank Jochen (1966- ).

    Neue Einsatzgebiete der Scanning Reference Electrode Technique (SRET) : abh. ... Univ. Stuttgart / Vorgelegt von Frank Jochen Maile. - Stuttgart : [s. n.], 2000. - 271 c. : ил. ; 21 см. - Библиогр.: с. 257-267. - 25 р.
Перевод заглавия: Область применения стандартной электролитической технологии со сканированием

ГРНТИ
ББК К663.05


Доп.точки доступа: Maile, Frank Jochen (1966- )
Найти похожие

8. В338.48

    Goldstein, Joseph I .

    Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis / Joseph I. Goldstein, Dale E. Newbury, Patrick Echlin et al. - 3. ed. - New York etc. : Kluwer acad. / Plenum publ., 2003. - XIX, 689 c. : ил. ; 26 см + CD-ROM. - Библиогр. в конце ст. Указ.: с. 675-689. - ISBN 0-306-47292-9 : 2844 р.
Перевод заглавия: Сканирующая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ.

ГРНТИ
ББК В338.48 + Г461.4-6


Доп.точки доступа: Goldstein, Joseph I; Echlin, Patrick; Newbury, Dale E
Найти похожие

9. З843.412

   

    Nanoscale characterization of
ferroelectric materials : scanning probe microscopy approach / M. Alexe, A. Gruverman (eds.). - Berlin etc. : Springer, 2004. - XIII, 282 c. : ил. ; 24 см. - (NanoScience a. technology, ISSN 1434-4904). - Библиогр. в конце ст. Указ.: с. 279-282. - ISBN 3-540-20662-0 : 4367.66 р.
Перевод заглавия: Маломасштабная характеристика сегнетоэлектрических материалов.

ГРНТИ
ББК З843.412


Доп.точки доступа: Alexe, Marin; Gruverman, Alexei
Найти похожие

10. 004.352.22:778.253
Б 94
2014л/2590 / Б 94-Осн.ф.


    Буш, Дэвид Д. .
    Секреты цифрового сканирования со слайдов, пленок и диапозитивов : руководство по высококачественному цифровому сканированию для фотографов и художников : [перевод с английского] / Дэвид Д. Буш. - Москва [и др.] : Вильямс, 2006. - 367 с., [8] л. ил. : ил. ; 24 см. - Предм. указ.: с. 364-367. - Пер. изд. : Mastering digital scanning with slides, film, and transparencies / D. D. Busch. - 2000 экз.. - ISBN 5-8459-1035-8 : 130 р.
УДК
ББК 32.973-04 + М941-5-05

Рубрики: Сканирующие устройства автоматические
   Машинная графика


Найти похожие

 1-10    11-20   21-30   31-40   41-45