Поисковый запрос: (<.>K=scanning<.>) |
Общее количество найденных документов : 46
Показаны документы с 1 по 10 |
|
1.
| Групп.хр.
Дифференциальная сканирующая калориметрия (ДСК). Часть 5. Определение характеристических температур и времени по кривым реакции, определение энтальпии и степени превращения/Подготовлен ФГУП "Всероссийский науч.-исследовательский ин-т авиационных материалов", ОАО "НПО Стеклопластик", ОЮЛ "Союз производителей композитов". - 11, [1] c.
|
2.
| II 1997л/234
Atomic force microscopy/scanning tunneling microscopy(AFM/STM) symposium(1;1993;Natick,MA). Atomic force microscopy/scanning tunneling microscopy/Ed.by Samuel H. Cohen et al. - 1994
|
3.
| II 1999л/364
Vegte E. W. Chemical and physical surface properties studied with scanning force microscopy/Door Eric Willem van der Vegte. - 1997
|
4.
| 1998б/2316
Suvorov A. L. Study of surface and volume defects in carbon and silicon by methods of field ion and scanning tunneling microscopy/A.L.Suvorov, Yu.N.Cheblukov, N.E.Lazarev et al.. - 1998
|
5.
| II 2000л/98
Orsouw N. J. Design and applications of mutation detection in large genes by two-dimensional gene scanning/Door Nathalie Jane van Orsouw. - 1998
|
6.
| II 1999л/281
Scanning probe microscopy: Analytical methods/Roland Wiesendanger(ed.). - 1998
|
7.
| II 2002к/23
Maile F. J. Neue Einsatzgebiete der Scanning Reference Electrode Technique (SRET)/Vorgelegt von Frank Jochen Maile. - 2000
|
8.
| II 2005л/126
Goldstein J. I. Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis/Joseph I. Goldstein, Dale E. Newbury, Patrick Echlin et al. - 2003
|
9.
| II 2005л/448
Nanoscale characterization of ferroelectric materials/M. Alexe, A. Gruverman (eds.). - 2004
|
10.
| 2014л/2590
Буш Д. Д. Секреты цифрового сканирования со слайдов, пленок и диапозитивов/Дэвид Д. Буш. - 2006
|
|
|
|
Электронный каталог (ЭК) Библиотеки Российской академии наук (БАН)
Описание ЭК