Поисковый запрос: (<.>K=Электронная микроскопия<.>) |
Общее количество найденных документов : 5
Показаны документы с 1 по 5 |
| 1. | В368.323.63
Gerber, Ralf (1967- ).
Ortsaufgelöste Untersuchungen an Bauelementen aus Hochtemperatur-Supraleitern : diss. ... Eberhard-Karls-Univ. zu Tübingen / Vorgelegt von Ralf Gerber. - Tübingen : [s. n.], 1997. - 143 c. : cил. ; 21 см. - Библиогр.: с. 127-143. - 25000 р.
Перевод заглавия: Исследование пространственной структуы составляющих элементов высокотемпературных сверхпроводниковББК В368.323.63
Доп.точки доступа: Gerber, Ralf (1967- )
Найти похожие
|
| 2. | В338.48
Metody analýzy povrchů : elektronová mikroskopie a difrakce / Ed. Ludmila Eckertová, Luděk Frank. - Praha : Academia, 1996. - 379 c. : ил. ; 24 см. - Библиогр. в конце ст. Указ.: с. 377-379. - ISBN 80-200-0329-0 : 120 р.
Перевод заглавия: Электронная микроскопия и дифракцияББК В338.48
Доп.точки доступа: Eckertová, Ludmila; Luděk, Frank
Найти похожие
|
| 3. | В338.48
Atomic force microscopy/scanning tunneling microscopy(AFM/STM) symposium (1 ; 1993 ; Natick,MA).
Atomic force microscopy/scanning tunneling microscopy : proc. of the First U. S. Army Natick research, development a. engineering center Atomic force microscopy/scanning tunneling microscopy(AFM/STM) symp., held June 8-10, 1993, in Natick, Massachusetts / Ed.by Samuel H. Cohen et al. - New York;London : Plenum press, 1994. - X,453 с. : ил. ; 26 см. - Библиогр. в конце ст. Указ.: с. 451-453. - ISBN 0-306-44890-4 : 825000 р.
Перевод заглавия: Атомно-силовая микроскопия или сканирующая туннельная микроскопияББК В338.48
Доп.точки доступа: Cohen, Samuel; United States.
Найти похожие
|
| 4. | Ж
Plitzko, Jürgen Michael (1967- ).
Quantitative Methoden in der energiefilternden Transmissionselektronenmikroskopie : diss. ... Univ. Stuttgart / Vorgelegt von Jürgen Michael Plitzko. - Stuttgart : [s. n.], 1998. - VII, 150 c. : ил. ; 21 см. - (Bericht / Max-Planck-Institut für Metallforschung Stuttgart ; N 76, Sept. 1998). - Библиогр.: с. 141-148. - 25 р.
Перевод заглавия: Квантовые методы в EFTEMББК Ж
Доп.точки доступа: Plitzko, Jürgen Michael (1967- )
Найти похожие
|
| 5. | В338.48
Goldstein, Joseph I .
Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis / Joseph I. Goldstein, Dale E. Newbury, Patrick Echlin et al. - 3. ed. - New York etc. : Kluwer acad. / Plenum publ., 2003. - XIX, 689 c. : ил. ; 26 см + CD-ROM. - Библиогр. в конце ст. Указ.: с. 675-689. - ISBN 0-306-47292-9 : 2844 р.
Перевод заглавия: Сканирующая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ.ББК В338.48 + Г461.4-6
Доп.точки доступа: Goldstein, Joseph I; Echlin, Patrick; Newbury, Dale E
Найти похожие
|
|
|
Электронный каталог (ЭК) Библиотеки Российской академии наук (БАН)
Описание ЭК