Библиотека Российской академии наук (БАН)

Базы данных


Электронный каталог (ЭК) Библиотеки Российской академии наук (БАН) - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
 Найдено в других БД:ЭК отдела БАН при Физико-техническом институте им. А.Ф.Иоффе РАН (ФТИ) (57)ЭК отдела БАН при Зоологическом институте РАН (ЗИН) (12)
Формат представления найденных документов:
полный краткийкарточка БАН
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ<.>)
Общее количество найденных документов : 5
Показаны документы с 1 по 5
1.

II 1998к/275
Gerber R. Ortsaufgelöste Untersuchungen an Bauelementen aus Hochtemperatur-Supraleitern/Vorgelegt von Ralf Gerber. - 1997
2.

II 2000л/404
Metody analýzy povrchů/Ed. Ludmila Eckertová, Luděk Frank. - 1996
3.

II 1997л/234
Atomic force microscopy/scanning tunneling microscopy(AFM/STM) symposium(1;1993;Natick,MA). Atomic force microscopy/scanning tunneling microscopy/Ed.by Samuel H. Cohen et al. - 1994
4.

II 2000к/319
Plitzko J. M. Quantitative Methoden in der energiefilternden Transmissionselektronenmikroskopie/Vorgelegt von Jürgen Michael Plitzko. - 1998
5.

II 2005л/126
Goldstein J. I. Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis/Joseph I. Goldstein, Dale E. Newbury, Patrick Echlin et al. - 2003